Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9112667 zu verkaufen
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ID: 9112667
Wafergröße: 6"
Atomic force microscope, 6"
X-Y Imaging area: ~90 um square
Z Range: ~6 um
Nanoscope controller
Integrated acoustic vibration isolation table.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das eine Vielzahl von Proben bei Vergrößerungen bis zu 300.000 Mal detailliert erfassen kann. Es verwendet eine niedrige Stromspannung, kalte Feldemissionselektronquelle, um einen hoch zuverlässigen Balken für die Bildaufbereitung und Spektroskopienanwendungen zu erzeugen. VEECO Dimension 3100 bietet Flexibilität im Betrieb durch automatisierte Systeme, die die Bildgebung leiten und steuern. Die Probe wird auf eine Stufe montiert und automatisch von den X-, Y- und Z-Scanmotoren bewegt, die eine präzise Steuerung der Probenposition ermöglichen. Zusätzlich erleichtert die XY-Positionierstufe den vertikalen Auftrieb der Probe, wodurch die Probe nach Bedarf leicht bewegt werden kann. Die Softwareeinstellungen von DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 können angepasst werden, um die Scanparameter zu optimieren und eine Echtzeit-Bildüberwachung und -erfassung durchzuführen. Die Kamera hat eine hohe Auflösung, mit 2048 x 2048 Pixel bei 0,1 μ m pro Pixel. Das Mikroskop ist mit einer Detektorsteuerung gekoppelt, die es dem Benutzer ermöglicht, alle Aspekte der Detektion zu steuern, z.B. den Winkelbereich, das Energiepassband und die Verstärkung der Ablenker. Das System kann mit prozessspezifischen Detektoren wie dem EDS-Detektor für die Elementaranalyse und dem CL-Detektor für die Kristallstrukturanalyse ausgestattet werden. All dies macht Dimension 3100 zu einem effizienten Werkzeug für die Bildgebung, Analyse und Charakterisierung im Nanometermaßstab. Die Abmessungen dieses Mikroskops betragen 295 x 92 x 325 cm bei einer maximalen Betriebshöhe von 24 cm. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist mit einer Vielzahl von Zubehör ausgestattet, um seine Leistung zu verbessern. Dazu gehören die SEFE-Befestigung zum Fokussieren des Elektronenstrahls, das Probenaustauschsystem zum schnellen Umschalten zwischen Proben und die Kryo-Stufe zur Durchführung von Niedertemperatur-Probenanalysen. Das Mikroskop kann auch mit einem energiedispersiven Röntgen- (EDX) -Spektrometer ausgestattet werden, das eine elementare Zusammensetzungsanalyse der Probe ermöglicht. Mit VEECO Dimension 3100 kann der Benutzer hochwertige SEM-Bilder erfassen, sowohl EBSD (Electron Backscattered Diffraction) als auch EDX-Daten erfassen und EDX-basierte Elementaranalysen durchführen. Es ist ein leistungsfähiges Werkzeug für nanoskalige Forschung und industrielle Prozesse. Mit seiner Automatisierung und Benutzerfreundlichkeit ist DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 das ideale Mikroskop für jede SEM-Anwendung.
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