Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9160895 zu verkaufen

ID: 9160895
Atomic Force Microscope (AFM) Maximum sample size: 8” Diameter, 0.5” thick Inspection area: 100 x 125 mm Small samples: Magnetic holder < 15 mm diameter Silicon wafers: 2”-8" AFM Probe station with shockproof pressure balance system Video zoom microscope Integrated zoom optical microscope Objective: 10x (Long working distance) (2) TV Camera tubes Motorized zoom system Motorized focus Lens illumination Color video camera Focus tracking and automated engagement Magnification range: 410-1845x With 13” monitor Field of view: 180-810 µm Cantilever holder Standard: Tapping mode Contact AFM, MFM Fluid cell: Fluid contact AFM Fluid tapping mode Parts includes: AFM Probe station D3100-1 AFM Probe and test bench D3100HP-2 AFM NanoScope Dimension 3100 controller NanoScope IV AFM Scanning probe microscope controller AFM Control personal computer system: ViewSonic VE 700 Dual screen system PC: Intel pentium 4 CPU DIGITAL INSTRUMENTS Keyboard HBZ3CY400-4XX AFM Test platform manual mouse.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein vielseitiges, hochleistungsfähiges Forschungsmikroskop für eine Vielzahl von Forschungsanwendungen wie Materialanalyse und Nanofabrikation. VEECO Dimension 3100 SEM ist mit einer hochauflösenden Wolframfadenquelle, einer großen Probenkammer und einer Feldemissionsquelle ausgestattet, die zusammen eine Reihe von Fähigkeiten wie Bildgebung, automatisierte Tomographie, Elektronenstrahl-Lithographie, Mikroanalyse und Materialoberflächenanalyse bereitstellen. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 verfügt über eine integrierte bildgebende Ausrüstung, mit der Anwender 3D-Bilder von strukturierten und unstrukturierten Proben in Auflösungen von Sub-Nanometer bis Mikrometer aufnehmen können. Dies ermöglicht eine äußerst präzise Messung und Abbildung von Materialoberflächen und ermöglicht so die Untersuchung von Struktur und Nanofabrikation. Die integrierte Bilderfassungs- und Analysetechnik ermöglicht auch die automatisierte Tomographie für die dreidimensionale Abbildung von Submikrometer-Materialien. Dimension 3100 verfügt auch über eine Feldemissionsquelle, die eine extrem präzise nanoskalige Bildgebung und Analyse ermöglicht. Diese Funktion ermöglicht leistungsstarke Mikroskopiesysteme, die Objekte erkennen und messen können, die so klein wie 1 nm über sind. Darüber hinaus können Mikroskopisten aufgrund der Feldemissionsquelle eine Schärfentiefe erreichen, die 20x besser ist als eine herkömmliche Wolframquelle. Diese verbesserte Schärfentiefe ermöglicht eine verbesserte Analyse feiner Details. Die große Probenkammer von VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 SEM ermöglicht es Anwendern auch, hohe Vergrößerungen an einer Vielzahl von Mustertypen zu erkunden. Diese Kammer kann Proben mit Größen von sehr groß (mehr als 10 cm) bis sehr klein (weniger als 1 cm) behandeln. Es ist auch sehr vielseitig, mit einer Vielzahl von Haltern zur Analyse von großen und kleinen Proben zur Verfügung. Darüber hinaus ist dieses SEM auch mit automatisierten Bühnensteuerungen ausgestattet, die eine präzise x-y-z-Positionierung von Proben ermöglichen, was die Leistungsfähigkeit dieses Mikroskopsystems weiter verbessert. Insgesamt ist das VEECO Dimension 3100 Rasterelektronenmikroskop eine unglaublich präzise und vielseitige Mikroskopeinheit, ideal für eine Reihe von Forschungsanwendungen, aufgrund seiner Fähigkeit, Details so klein wie 1 nm zu erkennen, seiner großen Probenkammer, integrierten Bildverarbeitungsmaschine und Feldemissionsquelle.
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