Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9199313 zu verkaufen

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 9199313
Atomic Force Microscope (AFM) NS5 Controller Operating system: Windows 7 Vibration enclosure included.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Rastersondenmikroskop (SPM), das eine physikalische Sondenspitze, einen Controller und einen Computer kombiniert, um die Bildgebung auf nanoskaliger Ebene zu ermöglichen. Sie besteht aus einer dreiachsigen Grobabtaststufe und einer zweiachsigen vertikalen Abtaststufe, die beide eine präzise Bewegung der Probe in x-, y- und z-Richtung ermöglichen. Die Steuerung ist mit einem Piezoscanner zur Steuerung des Spitzenprobenabstandes sowie mit piezoangetriebenen x-, y- und z-Achsen zur Positionierung und Rückkopplung der Probenposition ausgestattet. Der Controller und der Computer sind beide in derselben Workstation integriert, um eine einfache und minimale Rüstzeit zu gewährleisten. VEECO Dimension 3100 bietet zwei separate Abbildungsmodi: Kontaktmodus und berührungsloser (NC) Modus. Im Kontaktmodus wird die Spitze des Mikroskops mit der Oberfläche der Probe in Kontakt gebracht und anschließend über diese hinweg gescannt. Bilder werden durch Messung der Kräfte zwischen den Probenmolekülen und der Sondenspitze gewonnen. Dieser Modus ist ideal für die Abbildung von weichen und zerbrechlichen Materialien. Alternativ ermöglicht der NC-Modus die Abbildung und Manipulation von Oberflächen, bei denen die Spitze in Sub-Nanometer-Abständen von der Oberfläche platziert wird. Bilder können dann durch Messung von Unterschieden in den Tunnelströmen zwischen Probe und Sondenspitze gewonnen werden. Dieser Modus eignet sich zur Abbildung und Manipulation von harten Materialien, wie Halbleitern. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist auch in der Lage, Oberflächenprozesse in Echtzeit mittels Scanning-Fourier-Viewing (SFV) -Technologie zu überwachen, die die Phase oder Amplitude des Signals aufzeichnet, wie es vom NSOM-Detektor empfangen wird. Die Erfassung der Daten erfolgt automatisiert ohne Benutzereingriff, wodurch dynamische Oberflächenprozesse analysiert werden können. Darüber hinaus ermöglicht der SFV-Modus auch hochauflösende spektroskopische Bildgebung, die zur Erkundung oberflächenelektronischer Eigenschaften und molekularer Phänomene nützlich ist. Dimension 3100 ist ein kostengünstiges Werkzeug für nanoskalige Bildgebung und Manipulation. Durch die integrierte Workstation entfällt der Bedarf an externen Datenhandhabungsgeräten und die benutzerfreundliche Steuerungssoftware erleichtert die Bedienung. Die Software ermöglicht auch eine einfache Datenverarbeitung und Visualisierung und bietet eine Auswahl an grafischen Tools, um die Analyse und Interpretationsfähigkeit der Ergebnisse zu verbessern. Seine zuverlässigen Bildgebungs- und Manipulationsmöglichkeiten sowie sein effizienter Betrieb machen es zu einer großen Wahl für nanotechnologische Forschung in den Lebenswissenschaften, Materialwissenschaften und Elektronik.
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