Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9203566 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Werkzeug für fortschrittliche nanoskalige Messtechnik und Charakterisierung. Es ist ein computergesteuertes Rastersondenmikroskop, das sowohl qualitativ hochwertige Bildgebungsfunktionen als auch detaillierte Analysefunktionen bietet. Das 3100 verfügt über ein fortgeschrittenes Rastertunnelmikroskop (STM), ein Atomkraftmikroskop (AFM), ein Magnetkraftmikroskop (MFM) und eine Kombination von Umgebungsmodi sowie sekundäre Elektronenbildgebung (SEI). Der STM-Anteil von VEECO Dimension 3100 ermöglicht es Benutzern, Funktionen bis zu 0,1 nm abzubilden, was die Beobachtung einzelner Atome und Bindungen ermöglicht. Das STM ermöglicht auch die in situ Manipulation von Probenoberflächen. Dieses Merkmal ermöglicht es, katalytische Reaktionen zu testen, Partikel zu bewegen und die Integrität in verschiedenen Reaktionsstufen zu überprüfen. Dies kann für die Forschung in Bereichen wie Mikroelektronik, Nanofabrikation und Arzneimittelentwicklung nützlich sein. Der AFM-Teil des 3100 wurde entwickelt, um die physikalischen Eigenschaften einer Probe wie Oberflächenrauhigkeit, Schlupfwinkel und Reibung genau zu messen. Dies geschieht, indem die Probenoberfläche mit einer speziellen Sonde gescannt und die gesammelten Informationen interpretiert werden. Benutzer können auch Kraft-Weg-Kurven an der Probe messen, die für die Messung der mechanischen und elektrischen Eigenschaften eines Materials wichtig sind. Der MFM liefert statische und dynamische Rückkopplung auf ferromagnetische Materialien. Es verwendet eine Kombination aus Lorentz-Kraft und magnetischer Kraft, um Eigenschaften wie magnetokristalline Anisotropie und Domänenwandbeweglichkeit zu messen. Die MFM-Komponente von DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ermöglicht die Charakterisierung von magnetischen Dünnschichten und anderen nanoskaligen Sensorentwürfen. Der Umgebungsmodus von Dimension 3100 ermöglicht es, Materialien unter verschiedenen Bedingungen wie Temperatur und Druck zu untersuchen. Dieses Merkmal kann in der Forschung mit dem Schwerpunkt Halbleiterherstellung besonders hilfreich sein, da es Anwendern ermöglicht, die Auswirkungen von Reaktionstemperaturen und anderen Umwelteinflüssen auf Fertigungsprozesse zu untersuchen. Schließlich ermöglicht die SEI-Komponente von VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 die Abbildung von Probenoberflächen bei höheren Vergrößerungen. Auf diese Weise können Benutzer Korngrenzen, Schnittstellen und Stöße auf der Probe anzeigen und analysieren. SEI ist nützlich für die Forschung an dünnen Filmen, Nanomaterialien und anderen verwandten Bereichen. Abschließend bietet VEECO Dimension 3100 ein leistungsstarkes, multifunktionales Werkzeug für nanoskalige Messtechnik und Charakterisierung. Es kombiniert Rastertunnelmikroskop, Atomkraftmikroskop, Magnetkraftmikroskop, Umgebungsmodus und sekundäre Elektronenbildgebung, um Benutzern ein umfassendes Paket von Funktionen zu bieten. Es ist eine ideale Wahl für Forscher aus den Bereichen Mikroelektronik, Nanofabrikation und Arzneimittelentwicklung.