Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9227547 zu verkaufen

Es sieht so aus, als ob dieser Artikel bereits verkauft wurde. Überprüfen Sie ähnliche Produkte unten oder kontaktieren Sie uns und unser erfahrenes Team wird es für Sie finden.

ID: 9227547
Atomic force microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Scanning Probe Microscope (SPM) ist ein Forschungsmikroskop, das es ermöglicht, zu kleine Objekte mit herkömmlichen optischen Mikroskopen abzubilden, abzubilden und zu analysieren. Dieses fortschrittliche Tool verwendet piezoelektrische Ausleger, um Positionsänderungen auf der Nanometerskala sowohl für 2D- als auch für 3D-Messungen zu erkennen. VEECO Dimension 3100 Mikroskop wird weit verbreitet von Wissenschaftlern und Forschern in Wissenschaft, Industrie und Regierung verwendet, um nanoskalige Strukturen wie Proteine, Polymere, Halbleiter und Nanowire zu untersuchen. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Mikroskop umfasst mehrere Komponenten, wie einen winzigen Ausleger und eine hochauflösende sCMOS Kamera. Der Ausleger besteht aus einem piezoelektrischen Material, das sich in Reaktion auf ein elektrisches Feld ausdehnt oder zusammenzieht. Der Ausleger ist am Abtastkopf des Mikroskops angebracht, der den Ausleger über eine Probe auf einem vordefinierten Mikroschip manövriert. Die Spitze des Auslegers hat die Empfindlichkeit, kleine Nanometeränderungen in der Probe zu erkennen. Die sCMOS-Kamera ist derweil mit der Optik des Mikroskops gepaart, um diese Änderungen zu erfassen und zur weiteren Analyse auf einen Computer zu übertragen. Das SPM-Subsystem des Systems verfügt über proprietäre Rückkopplungsalgorithmen und ein Sensormodul zur Regulierung des freistehenden Probendetektors. Darüber hinaus ist das System in der Lage, Bereiche bis zu 0,1 nm zu scannen und Vollfarbbilder mit Auflösungen bis zu 100 nm zu erstellen. Mit dem Image Management Modul der Software ist es auch einfach, alle erfassten Bilder zu speichern, zu organisieren und auf sie zuzugreifen. Dimension 3100 Mikroskop bietet eine ganze Reihe von Automatisierungsmodi und Datenanalyse-Tools, einschließlich Kombinationsmodus für Stage Scan Analysis und Contact Frequency Spectrum für dynamische Proben. Dieses SPM wurde entwickelt, um hochgenaue Informationen zu extrahieren, auch auf Oberflächen, die rau, uneben und in drei Dimensionen sind. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist einstellbar und zuverlässig und kann für viele verschiedene Muster und Anwendungen kalibriert werden. Es kann so modifiziert werden, dass es kältere Stufen enthält, was zu seiner Vielseitigkeit bei der Untersuchung von Materialien bei niedrigeren Temperaturen als bei anderen SPM-Designs beiträgt. Insgesamt ist das VEECO Dimension 3100 Scanning Probe Microscope ein unglaublich leistungsfähiges Forschungswerkzeug, das es Wissenschaftlern ermöglicht, genaue und detaillierte nanoskalige Informationen über ihre Probenmaterialien zu erhalten. Mit seinem hochempfindlichen Cantilever, einer hochauflösenden Kamera und einer Reihe von Automatisierungs- und Datenanalysetools bietet es eine unschätzbare Ressource für diejenigen, die nanoskalige Phänomene erforschen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor