Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9241953 zu verkaufen

ID: 9241953
Atomic Force Microscope (AFM) Main measurement system Missing parts: Computer Controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ist ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), das für die Abtastung einer Vielzahl von Proben, einschließlich Polymeren und Halbleitermaterialien, entwickelt wurde. Es ist in der Lage, eine Vielzahl von Bildern mit einem hohen Maß an Detail zur Verfügung zu stellen. Das Gerät verfügt über ein robustes Design, das eine vollständig integrierte EnCase-Plattform mit einem ergonomischen Design umfasst, das ein benutzerfreundliches und intuitives Benutzererlebnis bietet. Es ist in der Lage, Proben im Bereich von 30 mm mal 20 mm bis 500 mm mal 400 mm unterzubringen. Es weist eine Probenstufe auf, die manipuliert werden kann, um die Probe zu kippen, um unterschiedliche Abbildungswinkel zu erzielen. Es ist auch mit einem hochempfindlichen sekundären Elektronenbilddetektor und einem Querschnittsmodus ausgestattet, der die Abbildung dickerer Proben ermöglicht. Das System enthält auch eine Feldemissionskanone, die für ein hohes Signal-Rausch-Verhältnis, eine geringe Drift und eine überlegene Fokustiefe ausgelegt ist. Darüber hinaus ist VEECO Dimension 3100 mit einem Hochleistungs-Gasscanner ausgestattet, der eine extrem detaillierte Abbildung von Proben ermöglicht. Das Gerät verfügt außerdem über einen beleuchteten optischen Sichtkopf, der zur Erleichterung der Probenpositionierung und -vorbereitung dient. Der optische Sichtkopf kann mit einer Vielzahl von Objektiven ausgestattet werden, darunter ein hochauflösendes 50x-Objektiv, das eine Analyse kleiner Merkmale ermöglicht. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Bildtypen zu erzeugen und zu analysieren. Dazu gehören topographische Bilder und Rückstreubilder der Probenoberfläche sowie sekundäre Elektronenbilder, die zur Abbildung und Analyse kritischer Merkmalsoberflächen verwendet werden. Darüber hinaus ist es in der Lage, hochauflösende Bilder von großen Proben zu erzeugen, so dass eine genaue Darstellung der Probe. Die Maschine ist auch in der Lage, mithilfe des integrierten Softwarepakets automatisch 3D-Modelle des Musters zu erzeugen. Mit diesen Modellen können die Proben detailliert visualisiert und analysiert sowie interaktive 3D-Präsentationen der Probe erstellt werden. Insgesamt ist Dimension 3100 ein leistungsstarkes und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop, das eine hochauflösende Bildgebung und Analyse einer Vielzahl von Proben ermöglicht. Es wurde entwickelt, um überlegene Bildqualität und Auflösung mit einem intuitiven und ergonomischen Benutzererlebnis zu bieten.
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