Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9364489 zu verkaufen
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ID: 9364489
Atomic Force Microscope (AFM)
Stage movement X and Y: 150 mm
With 2 micron resolution
Micron area viewing video optics: 150 - 675 Zoom
Piezo scan head range:
X and Y: 90 Micron
Z: 6 Micron
Sub nanometer resolution: 16 Bits DAC
Sample image size: Maximum 512 x 512
AFM Contact and tapping mode
Conductive AFM
STM
Liquid cell
Table and hood included
Does not include controller.
VEECO / DIGITALINSTRUMENT-Dimension 3100 ist eine schnelllaufende Abtastung des Untersuchungsmikroskops (SPM) für den Gebrauch in der wissenschaftlichen Forschung. Es ist sowohl für die Bildgebung und Manipulation von Oberflächen und Materialien auf der Nanoskala konzipiert. VEECO Dimension 3100 ist in der Lage, beispiellose Auflösung und Genauigkeit durch seine einzigartige Fähigkeit zu erreichen, die Wechselwirkung zwischen Sonden und Oberflächen bis auf atomare Ebene zu steuern und zu messen. Es bietet Nanometer-Skalensteuerung für Bildgebung, Spektroskopie, Kraftmessung und Manipulation. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 verfügt über eine berührungslose AFM-Konfiguration (Atomkraftmikroskop) mit einer großen interaktiven X-Y-Bühne. Mit dieser Konfiguration kann das Mikroskop feine Oberflächentopographien messen und sowohl statische als auch dynamische Oberflächenphänomene charakterisieren. Außerdem ist das SPM in der Lage, sowohl in Luft- als auch in Flüssigkeitsumgebungen zu arbeiten. Dimension 3100 verfügt über eine fortschrittliche bildgebende Ausrüstung, die komplexe Operationen wie elektrische Kraftmikroskopie (EFM), elektrische Potentialmikroskopie (EPM), leitfähige Atomkraftmikroskopie (CAFM) und Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM) ermöglicht. Es hat auch ein leistungsfähiges Trio von bildgebenden Modi - topographische, oberflächliche und 3-dimensionale Bildgebung. In Bezug auf die Auflösung ist VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 in der Lage, 0,5 nm in z-Richtung zu erreichen, was die Möglichkeiten zur Messung und Manipulation im Vergleich zu anderen Systemen erhöht. Darüber hinaus verbessert sein piezoelektrisches kombiniertes Rückkopplungsschleifen-Abtastsystem die Datenqualität erheblich und reduziert das Rauschen, was Messungen zuverlässiger macht. Das VEECO Dimension 3100 verfügt außerdem über eine parallele Verarbeitungseinheit, mit der viele Daten schneller gesammelt werden können, sodass der Benutzer Nanostrukturen schnell untersuchen kann. Diese Maschine ermöglicht es dem Benutzer auch, mehrere Experimente gleichzeitig durchzuführen, was es effizienter und produktiver macht. Abschließend ist DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 ein unschätzbares Werkzeug für Wissenschaftler und Forscher, die hochrangige Bildgebungs-, Charakterisierungs- und Manipulationsmöglichkeiten auf der Nanoskala benötigen. Mit seinen einzigartigen Eigenschaften und Fähigkeiten ist Dimension 3100 in der Lage, eine unübertroffene Genauigkeit und Kontrolle für Oberflächenmessungen und Manipulation zu bieten.
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