Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M #9401449 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M ist ein leistungsstarkes Rasterelektronenmikroskop (SEM), das sich im Bereich der bildgebenden Anwendungen wie Oberflächentopographie und Fehleranalyse, Dünnschichtanalyse, Nanopartikelcharakterisierung und Probenmanipulation auszeichnet. Dieses Mikroskop nutzt sowohl die Raster- als auch die Transmissionselektronenmikroskopie und bietet eine beispiellose Auflösung und Bildgebungsgenauigkeit. Herzstück des Mikroskops ist seine Elektronenquelle, eine leistungsstarke Schottky-Feldemissionskanone (FEG). Das FEG erzeugt einen Elektronenstrahl, der mit einer Reihe von Linsen beschleunigt und fokussiert wird, sowie einen Mechanismus zum Ablenken und Abtasten des Elektronenstrahls über die Probe. Dies ermöglicht eine breite Palette von Vergrößerungseinstellungen von 100 nm bis 200 nm, sodass der Benutzer Funktionen im Nanometermaßstab detailliert überprüfen kann. VEECO Dimension 9000M verfügt auch über einen einstellbaren hochwinkligen ringförmigen Dunkelfelddetektor (HAADF), der die Detektion von niederwinkligen Streuelektronen erhöht und somit die Kontrastauflösung des erzeugten Bildes erhöht. Darüber hinaus ist die Optikkammer mit einer automatischen Ausrichtstufe ausgestattet, die eine stabile Ausrichtung und Einstellung zwischen Elektronenquellen, Linse und Detektor ermöglicht und eine optimale Bildqualität darstellt. DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 9000 M enthält auch ein fortschrittliches Computersteuerungssystem, mit dem Benutzer Bildgebungsparameter einfach speichern, verwalten und abrufen können. Dieses System ermöglicht auch eine Echtzeitkontrolle über Probentemperatur, Stufenhöhe, Beschleunigungsspannung und Abtastrate. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 9000M verfügt zudem über eine interaktive Softwareumgebung, die die Anpassung unterschiedlichster Parameter ermöglicht. Dazu gehören die Stärke des Magnetfeldes einer Probe und ihre genaue Lage, die Größe und Form des Probenhalters und die Energie des Elektronenstrahls. Dimension 9000M ist ein gut abgerundetes Elektronenmikroskop, das entwickelt wurde, um eine breite Palette von nanoskaligen Merkmalen bis zum Sub-5-nm-Niveau am effizientesten und genauesten zu charakterisieren. Die außergewöhnliche Bildgebungsfähigkeit dieses Mikroskops in Kombination mit seinem benutzerfreundlichen Steuerungssystem ermöglicht die schnelle und genaue Visualisierung von Details, auf die mit früheren SEM-Modellen nur schwer zugegriffen werden kann.