Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension X1D #9298800 zu verkaufen
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ID: 9298800
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2004
Atomic Force Microscope (AFM), 12"
2004 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension X1D Scanning Probe Microscope (SPM) ist ein Hochleistungsinstrument für atomare Bildgebung und Manipulation. Seine Fähigkeit, Topographie, leitfähige STM, elektrochemische und EDX-Elementarspektroskopie-Datensätze zu erwerben, ermöglicht es ihm, Oberflächen mit beispielloser lateraler Auflösung abzubilden und zu charakterisieren. Die Basisausrüstung des X1D basiert auf SEM-basierter Hardware und verfügt über eine vollautomatisierte Bühne und eine ausgeklügelte, softwaregetriebene 6-Achsen-Steuerung. Dies bietet topographische Bildgebung mit Auflösung, Geschwindigkeit und Genauigkeit im Nanometermaßstab. Der Cantilever Positionierer und ein Flüssigkeitstauchobjektiv des X1D schaffen eine einzigartige Probenumgebung für Umweltkontrolle und Bildgebung auch unter Umgebungsbedingungen. Die X1D-proprietäre STM-Technologie mit dem Direct Piezo Actuation System (DPAS) bietet eine Vielzahl von Tunneling-Feedback-Modi und Bildgebungsfunktionen, die sich vollständig von herkömmlichen SPMs unterscheiden. Es ermöglicht eine zuverlässige und sensible Bildgebung über ein breites Spektrum von Tunnelstromregimes hinweg, wodurch Bilder mit höherer Auflösung unter Bedingungen erfasst werden können, bei denen äquivalente elektrostatische SPMs nicht möglich sind. Für die dreidimensionale Bildgebung und Datenerfassung unterstützt das X1D eine fortschrittliche Oberflächenabtasteinheit. Mit seiner Fähigkeit, über eine große Anzahl von Nanoschritten in hoher Auflösung zu scannen, bietet die X1D-Oberflächenscanner-Technologie Zugriff auf eine große Fläche der Probe bei hoher Auflösung, so dass Benutzer Details und Funktionen auf dem Nanometermaßstab untersuchen können. Das X1D ist auch mit einem fortschrittlichen Satz von digitalen Signalverarbeitung (DSP) und Datenerfassungstechniken integriert. Seine dynamische Signalanalyse-Softwaremaschine ermöglicht es Benutzern, Projekt- und Funktionsinformationen mit ultrahoher Geschwindigkeit aus zeitlich variierenden Signalen zu extrahieren. Dies hilft bei der Durchführung von Frequenz- und Zeitanalysen von Signalen, um komplexe Parameter schnell zu charakterisieren. Abgesehen davon ermöglicht die X1D Anwendern, eine Reihe von elektrochemischen Experimenten ohne umständliche Nassproben durchzuführen. Es unterstützt die proprietäre Gel-Based Electrochemical (GB-EC) -Technologie, die eine automatisierte Ausführung von EC-Experimenten ohne externes Flüssigkeitsbad ermöglicht. Es unterstützt auch Ionenstrom, Chronoamperometrie, zyklische Voltammetrie und andere verwandte Techniken. Insgesamt ist VEECO Dimension X1D ein leistungsstarkes und vielseitiges Instrument, mit dem Benutzer Nanostrukturen mit hoher Auflösung und Genauigkeit untersuchen und charakterisieren können. Seine Kombination aus Hardware- und Softwarefunktionen und seine Fähigkeit, eine Vielzahl von Analysen durchzuführen, machen es ideal für eine Vielzahl von atomaren Bildgebungs- und Manipulationsaufgaben.
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