Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS DUVx200 #9277355 zu verkaufen
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ID: 9277355
Weinlese: 2002
Atomic Force Microscope (AFM)
Type: Automatic
Emerging metrology technology
Does not include Hard Disk Drive (HDD)
Operating system: Windows XP
2002 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DUVx200 ist ein fortschrittliches Laserrastermikroskop. Das Gerät verfügt über einen Hochleistungslaser und eine spezialisierte lasergesteuerte Probenpositioniereinrichtung, um exakt reproduzierbare Scanvorgänge zu ermöglichen. Es ist für die Inspektion, Messung und Analyse verschiedener Materialeigenschaften auf nanoskaliger Ebene konzipiert. Das optische Design des Systems beinhaltet die nicht abgespeckte WOL-M Direktdetektionseinheit, eine reflektierende Objektivlinsenmaschine und eine automatisierte einstellbare Reduktionsoptik zur Erhöhung der Auflösung. Zu den Hauptkomponenten gehören eine Laserquelle (entweder ein Superhelium-Cadmium oder ein Argon-Ionen-Laser), eine Strahlabgabeoptik, eine Abtastoptik, zwei Ablenker und ein Photodetektor. VEECO DUVx200 bietet hervorragende bildgebende Leistung und Auflösung, mit 8x8 μ m Sichtfeld und 1 Nanometer Auflösung möglich. Das Tool verwendet außerdem vier verschiedene Datenerfassungsmodi - Bildgebung, Spektroskopie, Ellipsometrie und Fluoreszenz -, um Anwendern einen optimierten Workflow zu bieten. Nanoskalige räumliche Auflösung und präzise Stichprobenüberprüfung können alle durch diese Ressource erreicht werden. Darüber hinaus bietet das Modell eine intuitive Benutzeroberfläche mit seiner automatisierten Musterpositionierungs- und Bühnensteuerungssoftware, die eine einfache Steuerung auch der komplexesten Projekte ermöglicht. Die Ausrüstung umfasst auch eine Vielzahl von Funktionen, um Datensicherheit und Benutzersicherheit zu gewährleisten, wie physische Barrieren und Sicherheitsschalter. DIGITAL INSTRUMENTS DUVx200 bietet leistungsstarke Leistung, präzise Steuerung und ein hohes Maß an Benutzersicherheit und Datensicherheit. Seine flexiblen Konfigurationsmöglichkeiten machen es zu einer großen Auswahl für eine Reihe von nanoskaligen Forschungs-, Analyse- und Bildgebungsanwendungen.
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