Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III SPM / LSSF / DMLS #128345 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Das Nanoskop III SPM/LSSF/DMLS ist ein innovatives Rastersondenmikroskop, das mit fortschrittlicher Elektronenoptik eine extrem präzise Bildgebung und Profilierung von Oberflächen ermöglicht. Es ist für die hochauflösende Abbildung von Proben konzipiert, die zu klein sind, um von einem optischen Mikroskop gesehen zu werden, und verfügt über eine Vielzahl von bildgebenden Techniken für verschiedene Anwendungen. Eines seiner Hauptmerkmale ist eine große Palette von Abbildungsmodi, die die Analyse einer Vielzahl von Oberflächenmerkmalen ermöglichen. Im Zentrum des Systems befindet sich die optische Säule, die eine Probe in drei Dimensionen abtasten kann. Durch die Verwendung von Laserinterferometern kann die Säule genau über die Probe positioniert werden und ist in der Lage, Funktionen mit einer Größe von 25 Nanometern abzubilden. Das Nanoskop III zeichnet sich auch durch Feldemissionsrasterelektronenmikroskopie (FESEM) sowie Oberflächenspannungs- und Chipanalyse (LSSF) aus, die in der Lage ist, die globale Oberflächenspannung einer Probe und die Kinetik ihrer Materialchips zu analysieren. Mit dieser Funktion können Forscher verstehen, wie sich eine Probenoberfläche als Reaktion auf mechanische und Umweltkräfte verhält. Ein weiteres Merkmal ist die differentielle dynamische Mikroskopie (DMLS), die eine direkte Abbildung von Verschiebungen ermöglicht, die den Oberflächenwellen der Probe zugeordnet sind. Zusätzlich zu diesen Funktionen verfügt das System auch über automatisierte Rückkopplungsschleifen zur automatischen Wiederherstellung des Fokus, wodurch es einfacher ist, wiederholbare wiederholbare Bilder zu erfassen, und verfügt über einen optionalen Pre-Scan-Modus, der eine Echtzeit-Bilderfassung ermöglicht. Das Nanoskop III ist ein Hochleistungsmikroskopiesystem mit einer Vielzahl von Anwendungen. Es eignet sich gut zur Abbildung und Analyse kleiner Strukturen und zur Bestimmung ihrer mechanischen Eigenschaften, zur Analyse von Oberflächen und Defekten in dünnen Filmen sowie zur Extraktion kritischer Informationen für die Entwicklung neuer Produkte. Durch die Kombination von leistungsstarker Elektronenoptik und Analysesoftware bietet das Nanoscope III Forschern ein Instrument, das hochpräzise Bilder und Messergebnisse liefert, die für Forschung und Technik unerlässlich sind.