Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III #9276969 zu verkaufen

ID: 9276969
Weinlese: 1999
System 1999 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Das Nanoskop III ist eine hochpräzise Rastersondenmikroskoptechnologie, die eine Vollfeld-Nanoskala-Bildgebung und -Messung ermöglicht. Es verfügt über eine mehrschichtige harte Beschichtung, die Umweltisolation und integrierte Optik verwendet, um die Auswirkungen von reflektiertem Licht zu eliminieren und schärfere Bilder zu erzeugen. VEECO Nanoscope III kombiniert Scantunnel- und Atomkraftmikroskopie (AFM) -Techniken, um Anwendern eine beispiellose Auflösung, Genauigkeit und Reproduzierbarkeit bis zum Nanometerspiegel zu bieten. Sein MEMS-Design bietet Benutzern maximale Flexibilität, indem es ermöglicht, das System für bestimmte Anwendungen neu zu konfigurieren und die Bewegung des Scanners in den X-, Y- und Z-Achsen zu steuern. Es ermöglicht Benutzern auch, Probengröße, Form und Rauheit mit beispielloser Genauigkeit zu messen. DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III verfügt zudem über eine Vielzahl von Hardware- und Softwareoptionen. Dazu gehören ein Mehrkanal-Scanner zur simultanen Bildgebung, ein hochauflösendes Display zur einfachen Betrachtung und eine Roboterbewegungssteuerung für Hochdurchsatzoperationen. Das Nanoskop III ist mit einem empfindlichen Krafterfassungssystem ausgestattet, das die Fähigkeit hat, die auf einer Probenoberfläche aufgebrachte Kraft mit höchster Genauigkeit zu bestimmen. Dieses System dient auch zur Erfassung und Messung von Veränderungen der Eigenschaften der Probenoberfläche unter unterschiedlichen thermischen Bedingungen. Es kann auch die Eigenschaften des Materials bis zum atomaren Niveau messen. So können Anwender Materialien mit außergewöhnlicher Präzision und Detailtreue charakterisieren. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoskop III wird auch mit zwei verschiedenen Betriebsarten hergestellt; Rastertunnelmikroskopie (STM) und Atomkraftmikroskopie (AFM). STM wird zur Bildgebung und Charakterisierung von Oberflächen mit nanoskaligen Merkmalen verwendet, während AFM hauptsächlich zur Messung von Kräften zwischen den Probenoberflächenatomen verwendet wird. VEECO Nanoscope III unterstützt auch mehrere Betriebsmodi, einschließlich topographischer Kartierung, Kraftabbildung, Kraftspektroskopie, Nanoeindrückung und mehr. Ausgestattet mit einer automatisierten Wärmesteuerung ist das DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III in der Lage, die Temperaturstabilität bis zu 100 nm zu erhalten. So können Forscher das Verhalten von Material unter extremen Temperaturbedingungen messen, abbilden und charakterisieren. Nanoskop III wurde entwickelt, um die einzigartigen Anforderungen der Kunden zu erfüllen. Das außergewöhnliche Design umfasst ergonomische Rahmenkonstruktionen, verbesserte Antriebssysteme und eine Vielzahl fortschrittlicher Funktionen, die es zu einem der besten Scanmikroskope auf dem Markt machen. Es ist auch kompatibel mit einer Vielzahl von Elektronenmikroskop Zubehör und Systeme, so dass Forscher ihre Effizienz zu maximieren.
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