Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #293759079 zu verkaufen
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ID: 293759079
Atomic Force Microscope (AFM)
Controller
Monocular
Cold fiber light source
MMSTMLC STM Converter
STM Heads
STM OP
Manuals
PC
Laser filter
NanoProbe SPM Nanotip.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Das Nanoskop IIIa ist ein Rastersondenmikroskop (SPM) zur Charakterisierung von Oberflächen mit beispielloser Genauigkeit und Flexibilität. Es verfügt über ein breites Sichtfeld optische Ausrüstung, die eine außergewöhnliche bildgebende Reichweite ermöglicht, erfordert sehr wenig persönlichen Eingriff, und liefert einen großen Messbereich. VEECO Nanoscope IIIa ist mit einem branchenweit anerkannten hochauflösenden ImagePlus-Bildkopf ausgestattet, der in der Lage ist, Bildqualität mit verbesserter räumlicher Auflösung bereitzustellen. Es umfasst auch ein integriertes Fokussystem und eine breite Palette von Multi-Mode-SPM-Techniken. Im Kern nutzt DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A eine automatisierte FDC-Erkennungseinheit (Force Distance Curve), die es dem Bediener ermöglicht, die entsprechenden Messgrößen für die spezifische Anwendung zu konfigurieren. Dieses automatisierte Verfahren stellt sicher, dass Daten höchster Qualität erzeugt werden und die Konsistenz zwischen den Messläufen erhalten bleibt. Darüber hinaus ermöglicht diese Maschine die automatische und manuelle Datenerfassung. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A verwendet ein fortschrittliches Halbleiter-Cantilever-Design und eine große Auswahl an Bildgebungsspitzen, die eine einzigartig hohe Genauigkeit und hochauflösende Bildgebung der Probenoberfläche gewährleisten. Darüber hinaus umfasst dieses Tool erweiterte Datenverarbeitung, Glitch-Korrektur, thermische Analyse und andere erweiterte Optionen. Das Nanoscope IIIa verfügt über erweiterte Funktionen zur Geräuschreduzierung und gewährleistet eine breite Palette von Geräuschen durch verschiedene Teile des Geräts. Dieses Modell umfasst auch Echtzeit-grafische Rückmeldungen aus der Probe und eine automatisierte Ausrüstung zur Ermittlung der richtigen Messparameter. Zum Abschluss ist dieses System sowohl mit Windows- als auch Linux-Plattformen kompatibel, was eine einfache Verwaltung mehrerer Instrumente und Daten ermöglicht. Es enthält auch VEECO patentierte TipCheck™-Technologie, so dass das Gerät kontinuierlich die Spitze Zustand zu überwachen und automatisch die besten Tipps für jede Messung zu identifizieren. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette von Softwareoptionen und umfasst eine Vielzahl von Optionen für die Fernkommunikation zur Instrumentensteuerung und Datenerfassung. Abschließend ist VEECO NANOSCOPE III A ein umfassendes Rastersondenmikroskop, das mit einer branchenweit anerkannten, hochwertigen Optikmaschine gebaut wird. Dieses Tool bietet eine breite Palette von Funktionen und automatisierte Datenerfassungsoptionen, so dass es eine ausgezeichnete Wahl für die Bildgebung und Charakterisierung von Oberflächen auf einer breiten Palette von Proben.
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