Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IIIa #9410550 zu verkaufen

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Das Nanoskop IIIa ist eine hochpräzise Rastersondenmikroskopie-Plattform zur Bildgebung und Messung von Oberflächenstrukturen auf der Nanoskala. Es kombiniert die neuesten technologischen Fortschritte in der Elektronenmikroskopie mit einer intuitiven Softwareschnittstelle, mit der Benutzer das System individuell konfigurieren können, um seine anwendungsspezifischen Anforderungen zu erfüllen. Das Instrument verfügt über mehrere innovative technologische Fortschritte, um eine optimale Leistung zu gewährleisten. Die proprietäre „Flip-Mode“ -Positionierungstechnologie ermöglicht eine präzise Steuerung der Scankopfposition und gewährleistet eine exakte Registrierung zwischen Bilddaten, die bei nachfolgenden Scans gewonnen werden. Darüber hinaus ermöglichen die fortschrittlichen Kontrastverbesserungstechniken es Benutzern, detaillierte, kontrastreiche Bilder zu erhalten und kleine Funktionsgrößen zu messen. Das Muster-Betrachtungsmodul des VEECO Nanoscope IIIa ist mit einer 4 Zoll, 30 Watt Lucite Lichtquelle für maximale Bildauflösung und Kontrast ausgestattet. Die Probenstufe ist 12 „x 12“ und bietet somit genügend Platz für die Probenmanipulation. Zusätzlich kann der Probenhalter zur Analyse von Kippwinkeln, Probenorientierung und Probenoberflächenmessung eingesetzt werden. Die Datenerfassung und -auflösung von DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A kann auf spezifische Anwendungsanforderungen zugeschnitten werden. Eine digitale Datenerfassung mit 16-Bit-Auflösung sorgt für genaue Parametermessungen und ermöglicht es Benutzern, die Scangeschwindigkeit für eine maximale Auflösung anzupassen. Darüber hinaus steht ein doppelter Lichtstrahl für eine verbesserte Bildgebung zur Verfügung, der eine erhöhte Kontrast- und Bildauflösung ermöglicht. NANOSCOPE III A ist ein vielseitiges Instrument, geeignet für eine breite Palette von Anwendungen wie die Untersuchung von Nanopartikeln, Nanoröhren, kristallinen Materialien und hochauflösende Charakterisierung von Halbleitermaterialien, um nur einige zu nennen. Es ist auch kompatibel mit einer Vielzahl von Zubehör einschließlich Touch-Trigger-Sonden, Pinzette und Rasterelektronenstrahl Bildgebung. Basierend auf den spezifischen Anforderungen und dem Probentyp kann das System so konfiguriert werden, dass eine optimierte Bildgebung und Messung von Strukturen bis zu wenigen Nanometern möglich ist. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS NANOSCOPE III A bietet mit seinen fortschrittlichen Funktionen, seiner intuitiven Softwareschnittstelle und seiner hervorragenden Leistung eine hervorragende Leistung für jede Scanmikroskopieanwendung.