Gebraucht VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV #293630424 zu verkaufen

ID: 293630424
Weinlese: 2003
Atomic Force Microscope (AFM) Operation system: Windows NT Workstation 4.0 2003 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV ist ein fortschrittliches AFM (Atomic Force Microscope) für Industrie-, Forschungs- und Entwicklungsumgebungen. Dieses flexible Mikroskop verfügt über eine fortschrittliche, intuitive Softwareplattform, mit der Untersucher schnell Messungen und Bildanalysen von nanoskaligen Proben mit unübertroffener Genauigkeit und Wiederholbarkeit durchführen können. Der einfach zu bedienende Scankopf verfügt über fünf Freiheitsgrade, die es der Sonde ermöglichen, sich in X-, Y- und Z-Achsen zu bewegen, entlang der Probenoberfläche zu und von dieser weg zu steuern. Sein vielseitiges Allzweckdesign macht es meist für eine breite Palette von Proben geeignet und ermöglicht sogar eine manuelle Probenpositionierung und Bildgebung, die später unter verschiedenen Winkeln oder Vergrößerungen wiederholt werden kann. VEECO Nanoscope IV kann verwendet werden, um eine Vielzahl von Proben aus einer Vielzahl von Bereichen und Disziplinen abzubilden, einschließlich Materialwissenschaften, Biowissenschaften, Halbleiter und MEMS. Die zur Verfügung stehenden Abbildungsmöglichkeiten umfassen unter anderem die Abbildung von Topographie, Reibung, Elastizität, Klebekräften und Materialkontrast. Mit der SPI-Technologie (Scanned Probe Imaging) ermöglicht DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV die Messung der Topographie bis auf atomare Werte. Es bietet eine hochauflösende Bildgebung bei 100 Nanometern mit der höchsten Genauigkeit von bis zu 0,2 Nanometern. Mit seiner Schärfe der Bildauflösung kann Nanoscope IV selbst kleinste Details abbilden und Anwendern helfen, Daten noch härter zu messen und zu analysieren. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette von Bildwinkeln und Vergrößerungen, so dass Benutzer die detailliertesten Bilder erhalten. Das Mikroskop umfasst mehrere Sonden mit einer Vielzahl von Federkonstanten und Resonanzfrequenzen, die optimale Bilder ermöglichen, die nicht von thermischen oder anderen Umwelteinflüssen betroffen sind. Es kann auch verwendet werden, um Foliendicke und Oberflächenrauhigkeit mit großer Genauigkeit zu verfolgen. Darüber hinaus kombiniert VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope IV anspruchsvolle automatisierte Funktionen mit einer Vielzahl von Bildverarbeitungsoptionen, einschließlich Bildnähten, Kantenerkennung und Filterung. Weitere Merkmale sind 3D-quantitative Datenauswertung, Datenerfassung und visuelle Analyse, Farbkarten für qualitative Probenanalyse, Scanratenoptimierung und ein Post-Analysis-Modus für schnelle Datenverarbeitung. Anwender können aufgrund der erweiterten Funktionen und der benutzerfreundlichen Softwareplattform genaue, schnelle und wiederholbare Daten erhalten. VEECO Nanoscope IV ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Bildgebung, Messung und Analyse der Nanowelt um uns herum.
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