Gebraucht VEECO Dimension Vx210 #9064761 zu verkaufen

Hersteller
VEECO
Modell
Dimension Vx210
ID: 9064761
Atomic Force Profiler.
VEECO Dimension Vx210 ist ein Rasterelektronenmikroskop (Rasterelektronenmikroskop, SEM), das eine hochauflösende Analysefähigkeit für eine Vielzahl von Anwendungen bietet. Es soll Wissenschaftlern und Forschern die Informationen liefern, die sie für fortgeschrittene Inferenz- und Fehleranalysen benötigen. Dimension Vx210 wird mit einer Hochleistungswolframglühfadenfeldemissionsquelle für die stabile und zuverlässige Operation ausgestattet. Diese Quelle erzeugt einen Elektronenstrahl, der auf eine Probe gerichtet und fokussiert ist, die sich in einer voll ausgestatteten Probenkammer befindet. Um das Mikroskop zu betreiben, nutzen Forscher seine digitale Mehrachse-Bühne. Dies ermöglicht es Benutzern, die Probe im 3D-Raum genau auszuwählen und zu positionieren sowie über große Bereiche der Probe zu scannen und zu messen. Mit seiner Präzisionsstufe können Anwender eine Nanometerauflösung erzielen und Bilder bis zu einer Breite von maximal 7 nm aufnehmen. Das System verfügt über eine Vielzahl von Zusatzdetektoren, die es Forschern ermöglichen, eine Reihe von Informationen aus ihren Proben zu erhalten. Diese Detektoren umfassen einen Spektrumdetektor für die energiedispersive Spektroskopie (EDS), mit dem Benutzer die elementare Zusammensetzung von Proben schnell und genau identifizieren können. Das System kommt auch mit einer kombinierten Cs korrigierten Objektiv und Re-Collection-Seite Detektor, um alle Informationen für 3D-Oberflächentopologie und Bildgebung erforderlich zur Verfügung zu stellen. Die Linse liefert bis zu 30x multiplizierte Vergrößerung, die für die Identifizierung der Oberflächenmerkmale kleiner, komplexer Proben entscheidend ist. VEECO Dimension Vx210 verfügt auch über einen Everhart-Thornley Detektor für Secondary Electron Imaging (SEI). Dieser Detektor sammelt rückgestreute und sekundäre Elektronenbilder, wodurch Benutzer eine breite Palette von Probentypen, einschließlich Nanopartikeln und dünnen Filmen, präzise abbilden und messen können. Schließlich kommt Dimension Vx210 mit einer Ultrahochvakuum-Probenkammer. Diese Kammer ist so ausgelegt, dass sie ultrasaubere Bedingungen bietet, so dass die Proben während der Beobachtung und Messung ungestört bleiben. Dies ist wesentlich, um wiederholbare Ergebnisse zu erzielen, und stellt sicher, dass keine der untersuchten Proben kontaminiert ist. VEECO Dimension Vx210 Rasterelektronenmikroskop ist ein leistungsfähiges und vielseitiges Werkzeug, das ideal für Wissenschaftler und Forscher ist, die nach hochauflösenden analytischen Fähigkeiten suchen. Mit seiner Kombination aus digitaler mehrachsiger Stufe, kombiniertem Objektiv und einer Reihe von Detektoren bietet das System Anwendern eine umfassende Palette von Funktionen, die es hervorragend für die Bildgebung und Messung selbst der komplexesten Proben machen.
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