Gebraucht VEECO SXM 320 #36976 zu verkaufen

Das VEECO SXM 320 Rastersondenmikroskop ist ein fortschrittliches Werkzeug zur Untersuchung der Oberflächenmorphologie, zur Messung der nanoskopischen Eigenschaften und zur Durchführung der Spektroskopie von Materialien. Es bietet eine hervorragende optische und bildgebende Leistung und ist somit eine ausgezeichnete Wahl für die Analyse nanoskaliger Strukturen im Mikro- und Nanometermaßstab. SXM 320 ist ein kompaktes, vollautomatisches Mikroskop mit einer eingebauten motorisierten Bühne und programmierbaren Probenkontaktstufen. Es verfügt über ein sehr vielseitiges Mikro- und Nanoskala-Bildgebungssystem, das integrierte optische Ober- und Unteransicht, digitales Scannen, Atomkraftmikroskop (AFM) und Atomschichtabscheidungsfunktionen (ALD) bietet. Das Instrument kann mit einer breiten Palette von Zubehör konfiguriert werden, einschließlich integrierter Optik und analytischer Komponenten. VEECO SXM 320 unterstützt vier Abbildungsmodi: Photomikrographie, Atomkraftmikroskopie (AFM), Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und optische Profilometrie (OP). Darüber hinaus kann das Instrument mit zusätzlichen Software- und Hardwaremöglichkeiten wie einem automatisierten Mustervorlader aufgerüstet werden. Mit SXM 320 können Anwender eine Vielzahl von Eigenschaften und Phänomenen im Nanometermaßstab erfassen, analysieren, messen und präsentieren. Seine umfassenden Bildgebungs- und Analysefähigkeiten umfassen Mikrobearbeitung, Nanotechnologie, Spektroskopie und Bildgebung der Oberflächenmorphologie. Dieses fortschrittliche Nano-Imaging-Instrument verfügt auch über integrierte Remote-Login-Management, Temperaturkontrolle und Datenerfassungs- und Speicherfunktionen. VEECO SXM 320 bietet außergewöhnliche Leistung bei der Auflösung seiner bildgebenden Funktionen - die Bilder haben eine Auflösung von 0,3 nm und ein Sichtfeld von bis zu 100 μ m. Das Mikroskop eignet sich gut für nanoskalige Messanwendungen wie Advanced Imaging, AFM-basierte Visualisierung, optische Profilometrie und Partikelgrößenmessung. Es ist auch hochpräzise und präzise mit Genauigkeiten von 0,5 nm auf einem einzelnen Pixel. Das SXM 320 Rastersondenmikroskop ist ein fortschrittliches, hochmodernes Instrument, das den Anforderungen modernster Forschung, Entwicklung und industrieller Anwendungen gerecht wird. VEECO SXM 320 kombiniert herausragende optische und bildgebende Leistung mit modernsten mikroskopischen Fähigkeiten und ist die perfekte Wahl für die Untersuchung und Analyse von Eigenschaften und Phänomenen im Nanometermaßstab.