Gebraucht VEECO SXM Series #32497 zu verkaufen

VEECO SXM Series
Hersteller
VEECO
Modell
SXM Series
ID: 32497
Atomic Force Microscopes: Service and Support.
Die VEECO SXM Serie ist ein Rasterelektronenmikroskop zur Materialcharakterisierung. Es wird verwendet, um nanoskalige Strukturen und Nanomaterialien zu analysieren. Das Mikroskop der SXM-Serie ist ein äußerst zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug zur Analyse und Charakterisierung nanoskaliger Merkmale und Materialien. Die VEECO SXM Serie bietet einzigartige Funktionen mit der höchsten Bildauflösung und feinsten Details, die heute verfügbar sind. Das Mikroskop der SXM-Serie basiert auf einem ESEM-System (Environmental Scanning Electron Microscope). Dieses System verwendet eine Kombination aus einer Hochspannungs-Elektronensäule und einer Umgebungskammer, um Bilder zu erzeugen. Durch die Verwendung einer Schnellscanfunktion und spezialisierter Bildgebungstechniken wie Backscattering und Low-kV-Bildgebung können Forscher nanoskalige Funktionen mit bemerkenswerten Details untersuchen. Das Mikroskopmodul der VEECO SXM Serie verfügt über mehrere einzigartige Funktionen, die es zu einem äußerst leistungsstarken Werkzeug für die Charakterisierung von Nanomaterialien machen. Zunächst verfügt das Umgebungs-Rasterelektronenmikroskop über eine ultrastabile Gasquelle zur Erzeugung einer Vakuumumgebung. So können Forscher Nanostrukturen in nahezu jeder Atmosphäre untersuchen. Zweitens verfügt das Instrument über ein schnelles Suchersystem, das bis zu 4 Bilder gleichzeitig anzeigt. Die SXM-Serie verfügt außerdem über eine hochauflösende Kamera und eine Hochgeschwindigkeits-CCD-Kamera zur Abbildung von Nanostrukturen mit beispiellosem Detail. Schließlich verfügt das Mikroskop der VEECO SXM-Serie über ein automatisiertes Physikpaket. Mit dieser Funktion können Forscher eine Vielzahl traditioneller Analysen wie EDS- und WDS-Analysen durchführen. Dieses robuste Analysepaket ermöglicht eine gründliche und genaue Analyse jeder Nanostruktur. Zusammenfassend ist die SXM-Serie ein äußerst zuverlässiges und funktionsreiches Umgebungs-Rasterelektronenmikroskop, das zur Charakterisierung von Nanomaterialien und Nanostrukturen geeignet ist. Sein flexibles Design und seine extrem stabile Umgebung ermöglichen es Forschern, Materialien in praktisch jeder Atmosphäre zu untersuchen. Erweiterte Bildgebungs- und Analysefunktionen machen die VEECO SXM Serie zu einem unverzichtbaren Werkzeug für die Nanomaterialforschung.
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