Gebraucht ZYGO / IBM SXM-200 #150544 zu verkaufen

Hersteller
ZYGO / IBM
Modell
SXM-200
ID: 150544
Weinlese: 1998
Atomic force microscope (AFM) Input power: 115VAC, 50/60HZ, 10A Includes computer control and programmability of surface scanning Includes marble slab vibration dampening base De-installed 1998 vintage.
Das ZYGO/IBM SXM-200 Rasterelektronenmikroskop (SEM) ist ein fortschrittliches bildgebendes Werkzeug für die mikroskopische Bildgebung in den Bereichen Werkstoffwissenschaften, Biologie und Technik. Es hat eine hohe Auflösung, einen hohen Durchsatz und eine schnelle Bildwiederholfrequenz. Es ist mit einer FAST-Scan-Mikron-Spot-Pistole der neuen Generation, einer einfarbigen CCD-Kamera und einer neuen X-Y-Positionierungs-Miniaturbühne ausgestattet. Das SEM verfügt über eine hochauflösende elektrostatische Linsenausstattung, die eine detaillierte Bildgebungsfähigkeit bietet. Die Strahlelektronenenergie ist bis 30KV einstellbar für die Abbildung von Proben mit hoher Empfindlichkeit, auch von Materialien mit geringer Ordnungszahl. Die hohe Elektronenstrahlleistung ermöglicht eine hochauflösende Abbildung kleiner Merkmale und sorgt für detaillierte Bilder der Probe. IBM SXM-200 ist auch mit einer automatisierten 10mm-Probenstufe ausgestattet. Diese Stufe kann die Probe in X- und Y-Richtung in Schritten von einem Mikron bewegen, so dass der Benutzer extrem kleine Bereiche präzise abbilden kann. Diese Stufe ist auch mit einem hochauflösenden Encoder und einem absoluten Positionskontrollsystem ausgestattet, um sicherzustellen, dass auch kleinste Funktionen genau erfasst werden. ZYGO SXM-200 verfügt über eine automatisierte Einheit zur Steuerung und Überwachung der Probenkontamination. Diese Maschine soll die Möglichkeit einer Probenverunreinigung beim Scannen minimieren, sowie eine Verunreinigung der Probenkammer zwischen Scans reduzieren. Darüber hinaus bietet SXM-200 eine Vielzahl von optionalen Analyse- und Messwerkzeugen. Das Röntgenspektrometer bietet eine breite Palette analytischer Möglichkeiten, von der Elementaranalyse bis zur chemischen Analyse. Die sekundären und rückstreuenden Elektronendetektoren bieten eine hohe Empfindlichkeit für die Oberflächenbildgebung und für die Abbildung von oberflächennahen Schichten. ZYGO/IBM SXM-200 ist einfach zu bedienen und zu warten, und es ist ideal für die Analyse von sehr detaillierten Materialproben. Dies macht es zu einem wichtigen Werkzeug für Wissenschaftler und Ingenieure in den Bereichen Materialwissenschaften, Biologie und Ingenieurwissenschaften.
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