Gebraucht SCHERR TUMICO 20-3500 #293604553 zu verkaufen

SCHERR TUMICO 20-3500 ist ein optischer Komparator, der zum Vergleich von Größe, Form, Form und Position verschiedener Bauteiltypen und Teile verwendet wird. Es verwendet eine Lichtquelle, entweder eine Lampe hoher Intensität oder einen Laser, um ein Bild des Bauteils auf einen Bildschirm zu projizieren. Das vergrößerte Bild dient zur präzisen Messung der Geometrie des Bauteils. 20-3500 bietet eine Vielzahl von Funktionen und Möglichkeiten zur Messung und zum Vergleich. Es ist in der Lage, kleine oder große Bauteile mit bis zu 3500mm Durchmesser zu messen. Es bietet auch eine Vielzahl von Beleuchtungskonfigurationen und Farbfilter für verbesserte Messgenauigkeit. Darüber hinaus verfügt es über eine verstellbare Projektionslinse, die variable Vergrößerungen von 10 bis 100 Mal ermöglicht. Ein Mehrpunkt-Ausrichtungssystem ermöglicht es dem Benutzer, das Prüfling genau auszurichten und das Projektionsobjektiv an der Probe auszurichten. SCHERR TUMICO 20-3500 bietet auch eine Reihe von bildgebenden Funktionen, wie Kantenerkennung, Kontrastverbesserung und Lichtbogenmessung. 20-3500 enthält ein benutzerfreundliches Touchscreen-Panel, mit dem der Benutzer Einstellungen konfigurieren und speichern kann. Es akzeptiert auch eine Vielzahl von Eingabegeräten, wie Stift, Maus, Fußpedal und Joystick. Dadurch lassen sich die bildgebenden und messenden Werkzeuge präzise manipulieren. Der Komparator umfasst auch Videoausgabefähigkeiten, die es dem Benutzer ermöglichen, den Messvorgang in Echtzeit zu beobachten oder den Messvorgang zur zukünftigen Referenz aufzuzeichnen. SCHERR TUMICO 20-3500 ist ein genauer und vielseitiger optischer Komparator. Es ist für die Messung der Größe, Form, Form und Position der Komponenten konzipiert und bietet eine Reihe von Funktionen und Fähigkeiten für den Benutzer. Sein Mehrpunkt-Ausrichtungssystem, einstellbare Vergrößerungen, bildgebende Funktionen und Videoausgabefunktionen bieten genaue Messungen und machen es zu einer guten Wahl für Qualitätskontroll- und Entwicklungsprozesse.