Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT Medalist 3070 Series III #293654215 zu verkaufen

ID: 293654215
Test system Chassis Blower / Door assembly Internal vacuum valve External vacuum manifold Guide probe 6624A Quad output DUT power supply 82357B HPIB Adapter (for DUT Power supply) Swinging arm manipulator Display Keyboard tray Motherboard Panel Cage Cabling System card assembly 1135C Power Distribution Unit (PDU) Module Power Supply Unit (MPU) Spare parts included: Qty / Part number / Description (2) / 03066-66532 / ASRU-C Cards (1) / N1807-66500 / ASRU-N Card (3) / 03066-63603 & E9900-63602 / System card and clam shell power supply assembly (2) / E4000-66203 / Module Power Supply Unit (MPU), Power One version (2) / N1140-80003 / Module Power supply Unit (MPU), S3/5 Astec version (2) / E4033A/B / Pin verification fixture (1) / B180L / Controller with UNIX 10.2 and BT 5.21 (1) / RP5800 / PC Controller.
HP/AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medaillengewinner der Baureihe 3070 III ist eine vielseitige und robuste Ausrüstung, die Leiterplattentests mit hoher Geschwindigkeit anbietet. Diese robuste und zuverlässige Konstruktion wird für ein breites Anwendungsspektrum eingesetzt. Es unterstützt bis zu 512 Testknoten und bietet Funktionen zur Prüfung der Signalintegrität. HP Medalist 3070 Series III System enthält einen Mainframe und eine einzige Host PC/Windows Netzwerkkarte. Diese Einheit ist mit einer zentralen Steuerung ausgestattet, die Prozesssteuerung, Datenerfassung und Testflusssoftware enthält. Die zentrale Steuerung bietet schnelle analoge und digitale Erfassung, Signalaufbereitung und Signalumschaltung. Zusätzlich enthält der zentrale Controller der AGILENT Medalist 3070 Series III adaptive Testmustererzeugungsfunktionen. Die Maschine HEWLETT-PACKARD Medalist 3070 Series III ermöglicht es Testingenieuren, die Grenzmodule und Knotenanforderungen basierend auf dem Leiterplattendesign zu definieren. Jedes Begrenzungsmodul kann 128 Pins und zwei digitale Testmuster unterstützen. Je nach Konstruktion und Anforderungen können mehrere Randmodule in einem einzigen Testwerkzeug eingesetzt werden. KEYSIGHT Medalist 3070 Series III wird mit einem Softwarepaket geliefert, mit dem Ingenieure ihre Teststrategie effizient verwalten können. Dazu gehören die Programmierung der Parameter des Modells, die Durchführung von Messungen der Signalintegrität und der Datenerfassung sowie die Erstellung von Testflussdiagrammen. Erweiterte Funktionen wie Präzisionsschwellenanpassungen, Erzeugung von Logikmustern und Geschwindigkeitscharakterisierung werden ebenfalls unterstützt. Medalist 3070 Series III bietet verbesserte Flexibilität im Testdesign, um die Testabdeckung und Genauigkeit zu maximieren. Die erweiterte Benutzeroberfläche ermöglicht es Testingenieuren, die Testparameter schnell und einfach zu programmieren. Die Ausrüstung ist gut für große Produktionsläufe geeignet und bietet einen hohen Durchsatz und kostengünstige Operationen. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medalist 3070 Series III-System hilft, Tester-induzierte Fehler zu minimieren und die Qualität des Tests für kritische Leiterplattendesigns zu verbessern. Darüber hinaus bietet das Gerät eine verbesserte Wiederholbarkeit und Genauigkeit der Maschine und eignet sich somit gut für End-of-Line-Testanwendungen. Das Testwerkzeug AGILENT/HP Medalist 3070 Series III ist ein zuverlässiges und effizientes Testgerät für Leiterplatten, das nachweislich eine Vielzahl von Testanforderungen unterstützt. Mit verbesserter Modellwiederholbarkeit, Genauigkeit und erhöhter Flexibilität eignet sich AGILENT Medalist 3070 Series III bestens für komplexe PC-Board-Tests.
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