Gebraucht VON ARDENNE WM70H / C #9172921 zu verkaufen

ID: 9172921
High end coating line Wafer metallizer In-line complete system for coating wafers Back coating of silicon wafers with an aluminum layer Coating of nickel, silver and aluminum by electron beam evaporation (35) Cells can be coated per tray Productivity: 4,000 Wafers (5") per hour 2,600 Wafers (6") per hour Cycle time: 50s Technical parameters: System dimensions: Length: 19 m Area: 20 x 7 m Height: ~3 m Drive: Carrier speed max: 5 m/min Carrier speed during vapor deposition: 1.5 - 2.0 m/min Substrate temperature: Max. temperature: 300°C / 572°F Carrier dimensions: Length: ~1,450 mm Width: 925 mm (60) Wafers (5") per carrier (40) Wafers (6") per carrier Ambient conditions: Ambient temperature: +15 to 35 °C +59 to 95 °F Relative humidity at 30°C / 86°F: < 70 % Dust: < 10 mg/m3 Sluice chambers C1 and C7 Buffer chambers C2 and C6 Transfer chamber C5 Process chamber C4: EB Chamber C3 / C4.1 / C4.2 Sputter chambers (5) Sections (C4.3 to C4.7) Vacuum Working pressure: C2 - Buffer chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.1 - EB chamber 5 to 9 x 10-5 mbar C4.2 - Intermediate chamber 2 to 5 x 10-4 mbar C4.3 - Intermediate chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.4 - Sputter chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.5 - Pump chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.6 - Sputter chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C4.7 - Intermediate chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C5 - Transfer chamber 2 to 5 x 10-3 mbar C6 - Buffer chamber 2 to 5 x 10-3 mbar Leak rate: < 1 x 10-2 mbar l/s-1 Layer thickness / Properties: AI with copper: Thickness: 2 μm Wafer thickness: > 200 μm Temperature: 400°C / 752°F Purity: 99.98% AI with ceramic: Thickness: 3 μm Wafer thickness: 150 to 250 μm Temperature: 300°C / 572°F Purity: 99.5% Ag: Thickness: < 300 nm Sn: Thickness: < 300 nm NiCr: Thickness: < 40 nm Uniformity: ± 10% Evaporation: Production cycle: 120 h Power of electron beam Copper crucible: 100 to 200 kW Ceramic crucible: 20 kW Target material per cycle: 90 to 150 kg Vapor utilization: 48 to 50 % Target-substrate distance: 600 mm Carrier frequency: 60s Sputtering: Target material: Ag Target utilization: ~70% Target life: 240 h Cooling water: Particle size: ~50 mg/l pH Value: (8.0 to 9.0) Electrical conductivity: (150 to 250) μS/cm Acid capacity, Ks 4.3: (0.5 to 2.0) mmol/l Filterable substances: < 50 mg/l Chloride: < 10 mg/l Sulfate: < 30 mg/l Ammonium: < 0.5 mg/l Nitrate: < 10 mg/l Colony count (CFU): ~ 1,000 ml-1 TOC (total organic carbon): < 1.5 mg/l Inlet temperature: 21 to 25°C 69.8 to 77°F Differential pressure: 2 bar Absolute pressure max: 8 bar Water circuit 1 chambers: Volume flow: TBD m3/h Temperature: 25°C / 77°F Required pressure: 6 - 8 bar Cooling capacity: TBD kW Electrical system: 3 Phases, 3 AC 480 V Tolerance: -10/+6 % Frequency: 59 to 61 Hz Grounding resistance: <2 Ohm Connected load max: 400 kVA Function: Wafers are coated on one side with (2) metal layers.
VON ARDENNE WM70H/C ist eine fortschrittliche Photoresist-Ausrüstung, die hochwertige Dünnfilmbilder und -muster herstellen kann. Das System wurde entwickelt, um Größen bis zu 70 nm in der Breite und 100 nm in der Höhe mit einer Genauigkeit von 2 nm zu schaffen. Die Einheit besteht aus mehreren Komponenten wie Photomasken, einer Lithographiemaschine, zahlreichen fluidischen Komponenten, einem Gasspender und einer Resistquelle. Die Photomasken, mit denen die Oberfläche des Wafers gemustert wird, werden zunächst in die Lithographiemaschine geladen. Dann geben die fluidischen Komponenten den Resist (ein chemisches Gemisch) schnell auf die Photomaske und den Wafer ab und helfen, ihn gleichmäßig zu verteilen. Der Resist wird dann einem Licht aus einer Flutquelle ausgesetzt, um ein Resistmuster zu erzeugen, das als Schablone fungiert, in die die Oberflächendetails gebildet werden. Ein Gasspender legt exakt einen Fluorkohlenstoffschutzfilm über die Resistoberfläche an, um den Gasstrom zu handhaben und die Emulsionskonsistenz zu versichern. Anschließend wird der Resist abgestreift, gespült und getrocknet, und der Wafer ist dann bereit, sich einem weiteren Ätzprozess zu unterziehen und den Resist abzuziehen. TheWM70H/C Maschine verfügt über die modernsten Komponenten auf dem Markt und bietet eine überlegene Bildplatzierung Genauigkeit, Präzisionsmusterdefinition und High-Fidelity-Film-Strukturierung für Halbleiter-Lithographie-Prozesse zwischen 70-100 nm. In Kombination mit einem harmonischen Nachätzwerkzeug bietet WM70H/C klare, detaillierte Merkmale mit einer Genauigkeit von 2 nm. Darüber hinaus garantieren das breite Parameterspektrum und der automatisierte Betrieb minimale Rüstzeiten, was zu signifikanten Produktivitätssteigerungen führt. Es ist ideal für Serienumgebungen mit fortschrittlichen Halbleiterprozessen.
Es liegen noch keine Bewertungen vor