Gebraucht ACCRETECH / TSK APM-60C #9396537 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK APM-60C
Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
APM-60C
ID: 9396537
Prober.
ACCRETECH/TSK APM-60C ist ein berührungsloser Prober zur Sondierung und Inspektion der elektrischen Eigenschaften integrierter Schaltungen. Das Tool bietet eine komplette Palette von Funktionen zum Sondieren und Testen von Silizium-Wafern und -Substraten, einschließlich Produktbewertung, Charakterisierung und mittlere bis hohe Serienproduktion von integrierten Schaltungen. TSK APM-60C verfügt über ein hochmodernes Multiprobe Robotic Equipment (MRS) Design. Der MRS-Mechanismus besteht aus einer Abtaststeuereinheit und einem optischen Positioniersystem. Die optische Positioniereinheit bietet eine extrem genaue Ausrichtung und Wiederholbarkeit, während der kontrollierbare Scanbereich eine Sondierung und Inspektion von bis zu 600 Werkzeugen pro Werkzeug ermöglicht. Die berührungslose Messtechnik der Systeme ist in der Lage, durch Messung der individuellen Knotenkapazität und des Widerstandes die Teilevariation präzise zu erfassen. Unterstützt wird dies durch den Einsatz fortgeschrittener Algorithmen zur Analyse von Signalwellenformen und zur Bestimmung potentieller Profilschwankungen. Weitere Hauptmerkmale von ACCRETECH APM-60C sind die Hochgeschwindigkeitsdatenerfassung, ein dynamischer Datenprozessor und ein Farbvideomonitor. Die Datenerfassungsmaschine ermöglicht schnelle Messungen von Spannungs- und Stromwellenformen, während der Datenprozessor die Interpretation der gemessenen Wellenformen für den Bediener vereinfacht. Der Farbvideomonitor erleichtert die genaue Überprüfung der Position und Ausrichtung der Sonden. APM-60C ist ein effizientes und vielseitiges Inspektions- und Sondierungswerkzeug, das für eine breite Palette von IC-Designs und Komplexitätsstufen geeignet ist. Seine hochpräzisen Sondierungs- und Messfähigkeiten in Kombination mit seinen vielfältigen Sondierungsmöglichkeiten machen es zu einem idealen Werkzeug für Charakterisierung, Montageverifizierung und Fehleranalyse. Es ist eine effektive Lösung zur Steigerung der IC-Prozessausbeuten durch Reduzierung der Kosten im Zusammenhang mit defekten Produkten.
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