Gebraucht ACCRETECH / TSK APM-90AF #293740523 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK APM-90AF ist ein Wafer-Prober, der zum Sondieren und Testen von integrierten Schaltungen auf einzelnen Wafern verwendet wird. Die Maschine ist in der Lage, bis zu 1.000 Wafer pro Stunde zu testen, und ist mit einer Vielzahl von Sondierungstechnologien ausgestattet, einschließlich elektrischer, optischer und thermischer Sondierung. Der Prober ist hochgradig konfigurierbar und kann für eine Vielzahl von Tests und Anwendungen verwendet werden. TSK APM-90AF verfügt über einen 10-Zoll-Waferträger mit einem 2,5-Zoll-Gesamtscanbereich und einer 4,5-Zoll-Durchmesser-Glasdüse. Der Prober hat eine maximale elektrische Prüfdrehzahl von 800 MHz und eine maximale thermische Prüfdrehzahl von 200Hz. Der Prober verfügt auch über eine absolute mechanische Positioniereinrichtung, die eine schnelle und genaue Platzierung von Sonden auf der Waferoberfläche ermöglicht. Der Prober ist kompatibel mit verschiedenen parametrischen Halbleitertestsystemen, einschließlich Wafer-Level-Packungstestsystemen und Wafer-Level-Zuverlässigkeitstestsystemen. Der Prober bietet eine Vielzahl von Schnittstellen, darunter einen Datenbusanschluss, zwei serielle Anschlüsse und einen E/A-Anschluss. Der Prober ist mit einer Vielzahl fortschrittlicher Funktionen ausgestattet, die es ideal für die Prüfung von hochdichten Schaltungen machen. Der Prober verfügt über ein eingebautes Z-Kopfwerkzeug, das eine bis zu sechsmal schnellere Sondierung als ein herkömmlicher Tastkopf ermöglicht. Der Prober verfügt auch über AutoFinger™, ein ausgeklügeltes Sondierungssystem, das die Chargenfertigung von Wafern mit verschiedenen Prozessen bewältigen kann. Der Prober verfügt über ein integriertes ECCS (Electronic Cooling Control Unit), das eine genaue Temperaturregelung beim Sondieren, Testen und Sortieren von Wafern ermöglicht. Der Prober verfügt auch über eine Befehlssprache-Schnittstelle, mit der Benutzer den Prober programmieren können, um den Testprozess und die Routinen anzupassen. Neben den fortschrittlichen Funktionen verfügt ACCRETECH APM-90AF über ein robustes und zuverlässiges Design. Der Prober ist mit einem Fehlerdiagnosemaschine ausgestattet, die Benutzer auf Fehler während des Testprozesses erkennen und warnen kann, so dass Benutzer Probleme schnell erkennen und beheben können, bevor sie die Testergebnisse beeinflussen. APM-90AF ist ein hochkonfigurierbarer, zuverlässiger und effizienter Prober, der sich ideal zum Testen und Sondieren von integrierten Schaltungen auf einzelnen Wafern eignet. Die fortschrittlichen Funktionen des Probers machen es zum perfekten Werkzeug für die anspruchsvollsten Halbleitertestaufträge.