Gebraucht ACCRETECH / TSK FP 3000 #293637098 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK FP 3000 ist eine technologisch fortschrittliche, erstklassige Prober-Ausrüstung, die für die hochpräzise Sondierung und Prüfung von Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Es verfügt über eine Reihe integrierter Diagnose- und Analysetools, mit denen fortgeschrittene Halbleiterbauelemente umfassender getestet werden können als herkömmliche Testmethoden. Das System ist mit einer 4-Achsen-XYZT-Wafer-Prober-Stufe ausgestattet, die eine schnelle und genaue Bewegungssteuerung bietet und Hochgeschwindigkeitsprozesse über eine Vielzahl von Substratgrößen hinweg ermöglicht. Darüber hinaus setzt das Gerät verschiedene Diagnosewerkzeuge ein, um höchste Präzision und Genauigkeit zu erreichen. Diese Tools umfassen fortgeschrittene Visionssysteme für die Kantenausrichtung, optische Mikroskopie für die Fehleranalyse, fortschrittliche elektrische Testkerne für FET- und MOSFET-Tests und laserbasierte Bildgebung für die Fehlerklassifizierung und -analyse. Die erweiterten Sichtfunktionen von TSK FP 3000 ermöglichen eine verbesserte Sichtkontrolle und ermöglichen eine schnellere und genauere Ausrichtung des Wafers und der Komponenten. Darüber hinaus verfügt die Maschine auch über ein optisches Werkzeug, um eine optimale Betrachtung der Geräteoberfläche während des Wafer-Handhabens zu gewährleisten. Darüber hinaus können die optischen Mikroskopie-Tools des Asset Fehler bis auf wenige Mikrometer erkennen und helfen, sie in verschiedene Kategorien wie kurze Hosen, Öffnungen und/oder andere komplexe Defekte einzuordnen. Darüber hinaus verfügt das Modell über integrierte elektrische Testfunktionen für FET- und MOSFET-Tests, was bedeutet, dass Geräte mit diesen Technologien effizienter und genauer getestet werden können, als wenn herkömmliche Testmethoden verwendet würden. Darüber hinaus bietet das Gerät laserbasierte Bildgebungsfunktionen, die die Erkennung, Klassifizierung und Analyse von Defekten auf Wafern und Geräten erleichtern. Kurz gesagt, ACCRETECH FP 3000 ist ein ideales Probersystem für jeden Hersteller oder Forscher, der ein fortschrittliches und zuverlässiges Testwerkzeug benötigt. Seine Eigenschaften und Fähigkeiten gewährleisten höchste Genauigkeit und Effizienz bei der Überprüfung und Prüfung von Halbleiterbauelementen. Dieses Gerät bietet höchste Präzision, Leistung, Zuverlässigkeit und Flexibilität, um optimale Ergebnisse zu gewährleisten.