Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 300 #9243758 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 300 ist ein Prober, der entwickelt wurde, um die Parameter von Wafern, ICs und anderen Halbleiterbauelementen genau und schnell zu messen. Es ist eine vollautomatische Ausrüstung, die eine hochpräzise Sondierung und Prüfung von 3D-ICs ermöglicht. Der Prober umfasst eine Reihe von Hardware- und Softwarekomponenten, darunter eine 7-schichtige vertikale Querschnittsebene und ein On-Board-Datenverarbeitungssystem, um präzise und effiziente Messergebnisse zu liefern. Die vertikale Ebene von TSK MHF 300 besteht aus einer Vorrichtung, verstellbarem Abstandshalter, Induktionsnadelkopf und Luftkissen. Die Halterung ist eine Plattform zur Aufnahme des IC oder Wafers. Der verstellbare Abstandshalter ist für die Breite des IC oder Wafers ausgelegt, wodurch der Pinhead platziert werden kann. Der Induktionsnadelkopf hält ausgerichtete Stifte, die in den Wafer/IC eingesetzt werden, um seine Parameter zu messen. Das Luftkissen verhindert einen unerwünschten Kontakt zwischen Pinhead und IC/Wafer. Die ACCRETECH MHF 300 weist eine bordeigene Datenverarbeitungseinheit auf, die ein feldprogrammierbares Gate-Array (FPGA), eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC) und einen Data Trace Controller Chip (TTC) umfasst. Diese Maschine gewährleistet eine schnelle und genaue Analyse der Daten und liefert präzise Messergebnisse. Das FPGA ermöglicht die schnelle Verarbeitung von Daten, während das ASIC die Daten kompiliert, um Echtzeitergebnisse zu generieren. Der TTC ermöglicht die Speicherung und Analyse mehrerer während des Messvorgangs gesammelter Datenproben. Darüber hinaus bietet MHF 300 einen hohen Dynamikbereich und einen breiten Frequenzgang. Die im Prober verwendeten Pins sind mit einer Fünf-Gigapixel-Kamera ausgestattet, die hochpräzise Messungen ermöglicht. Die Kamera wird auch verwendet, um feine Bewegungen und kleine Verschiebungen zu erkennen, um genaue Ergebnisse zu gewährleisten. Darüber hinaus unterstützt ACCRETECH/TSK MHF 300 Temperaturprüfungen, die die Beurteilung temperaturabhängiger Parameter und Phänomene ermöglichen. TSK MHF 300 ist ein effektives Werkzeug zur präzisen und effizienten Prüfung von Wafern, ICs und anderen Halbleiterbauelementen. Die vertikale Ebene und das bordeigene Datenverarbeitungswerkzeug sorgen für genaue Datenmessung und -analyse, während der hohe Dynamikbereich und der breite Frequenzgang präzise Ergebnisse liefern. Mit Hilfe der Kamera und Temperaturprüfungen ist es in der Lage, kleine Unterschiede und Störungen effektiv zu erkennen, um genauere Ergebnisse zu erzielen.