Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 300L #293664535 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 300L ist ein fortschrittlicher Prober zur Charakterisierung und Abscheidung von Dünnschichtmaterialien. Es ist ein hochpräzises Instrument zur Bewertung der Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und Substraten. Der Prober ist mit einem Linearantriebsmotorsystem für das On-the-Fly-Patchen sowie einem dreiachsigen Manipulator für den Zugriff auf schwer zugängliche Stellen ausgestattet. Der Prober verfügt über eine 300 mm Wafer-Prüfkammer, die Wafer bis 300 mm Durchmesser aufnimmt. Die Kammer ist isoliert, um thermische Geräusche zu vermeiden und bietet eine ausgezeichnete Vakuumstabilität für präzise Messungen. Der Prober verfügt außerdem über einen dreiachsigen Beschleunigungstisch, der eine hochdynamische Charakterisierung von Materialien ermöglicht. Der hochauflösende, kraftmessende Vorspanner im Prober sorgt für eine präzise Handhabung empfindlicher Werkzeuge und Wafer. Es ist mit berührungslosen elektrischen Komponenten ausgelegt, die hochgenaue Wortspinnmessungen ermöglichen. Der Prober ist mit verschiedenen Sensoren ausgestattet, einschließlich Temperatur-, Druck- und Lichtsensoren. Der Temperatursensor eignet sich für die Temperaturmessung mit einem Bereich von -35 ° C bis 150 ° C und eignet sich für Mikroprozessorumgebungen. Der Lichtsensor kann bis zu vier optische Wellenlängen erfassen und hilft dabei, transparente Materialeigenschaften und -eigenschaften zu analysieren. Die Drucksensoren erfassen die Druckmenge, die auf das Material ausgeübt wird, wodurch eine genaue Messung der Kontaktkraft zwischen dem Tester und der Probe möglich ist. Der Prober ist auch mit einer Vielzahl von Testsoftware kompatibel, einschließlich TSK MHF-Software, die einen vollständigen Satz von Funktionalitäten umfasst, um eine breite Palette von Charakterisierungsaufgaben abzudecken. Darüber hinaus verfügt es über ein statistisches Datenanalysesystem zur automatisierten Datenanalyse und -berichterstattung. Die vom Prober erhobenen Daten können zur Erstellung detaillierter Berichte zur Bestimmung der Eigenschaften von Halbleitermaterialien verwendet werden. Zusammenfassend ist TSK MHF300L ein hochpräziser Prober zur Charakterisierung und Abscheidung von Dünnschichtmaterial. Es ist mit einer breiten Palette von Funktionen gebaut, um schnellere und genauere Charakterisierungsergebnisse zu ermöglichen. Der Prober ist mit verschiedenen Sensoren ausgestattet und kompatibel mit mehreren Testsoftware, so dass es eine ideale Wahl sowohl für Forschung und kommerzielle Anwendungen.