Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 300L #293664536 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 300L prober ist eine fortschrittliche Wafer-Sondierungslösung, die zur Sondierung ultrakleiner Schaltungen auf fortgeschrittenen Halbleiterbauelementen entwickelt wurde. Der Prober verfügt über eine TSK proprietäre Mikrowellenfrequenzverteilungslösung, die eine gleichzeitige Prüfung mehrerer Testpunkte ermöglicht. Der Prober verfügt außerdem über eine 12-Wafer-Kapazität, einen MES-Mehrstufenwärmetauscher und eine Stufen- und Wiederholprobenentnahmeeinrichtung. Darüber hinaus verfügt der Prober über ein fünfachsiges automatisiertes Bewegungssystem, das die Sondierungszeit reduziert und gleichzeitig eine präzise Steuerung der Bewegungen und eine genaue Sondierung kleiner Strukturen ermöglicht. TSK MHF300L prober ist in der Lage, Industriestandards zu erfüllen, entspricht den Anforderungen der USP-Klasse III und ist elektrisch mit SEMI- E98 konform. Der Prober verfügt außerdem über einen optionalen Probenlängen- und Typdetektor sowie ein optionales automatisches Kalibriermodul. ACCRETECH MHF 300 L prober ist zudem mit einer benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche ausgestattet, mit der bis zu drei Jahre Testdaten gespeichert und analysiert werden können. MHF300L prober bietet eine breite Palette von Testoptionen, einschließlich Gate-Array, analog, digital, hohe Dichte, niedrige Dichte und vergrabenen Kanal. Diese Technologien werden mit ACCRETECH Kanal Verschachtelungsfähigkeit, gekoppelt mit seiner hohen Genauigkeit konventionelle und Mikrowellen-Sondierung Konfiguration erreicht. Die Sondenkarte verfügt über mehrere einzigartige Funktionen, die die Leistung und Zuverlässigkeit des Probers verbessern. Dazu gehören mehrere verschiedene Arten von Schutzringen, eine Übersprechausscheidungseinheit und ein induktiv angepasster Differenzverstärker für optimale Signalintegrität. Darüber hinaus ermöglichen die einzigartigen Merkmale von ACCRETECH/TSK MHF300L prober eine effiziente Hochfrequenzsondierung und ermöglichen die Sondierung mehrerer benachbarter Elemente mit minimalem Übersprechen. Der Prober ist mit zahlreichen Parametern vorbelastet, um sicherzustellen, dass die Tests genau und zeitnah abgeschlossen werden. ACCRETECH MHF300L prober verfügt auch über rauscharme Verstärker, eine Fehlerabfangmaschine für die Diagnose und eine Array-Schnittstellenfunktion für Datenstromtests. Kurz gesagt, TSK MHF 300 L prober ist eine hochmoderne Wafer-Sondierungslösung, die schnelle, genaue und zuverlässige Tests für fortschrittliche Halbleiterbauelemente bietet. Mit seiner breiten Palette von Testoptionen, hohe Genauigkeit, benutzerfreundliche Schnittstelle und erweiterte Funktionen, MHF 300 L prober ist entworfen, um die anspruchsvollen Anforderungen der modernen Halbleiterproduktion und Test zu erfüllen.