Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 300L #9145225 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 300L ist ein vollautomatischer Prober zur schnellen Inspektion von Wafer- und Gesenkoberflächen. Dieser Prober wurde entwickelt, um einen hohen Gesamtdurchsatz von bis zu 300 Wafern/Stunde mit schneller Ausrüstung und ausgezeichneter Partikel- und Staubkontrolle zu gewährleisten. Neben der Konstruktion mit leichten und geringen Trägheitsmanipulatoren verfügt TSK MHF300L auch über eine dynamische Wafer-Handling-Ausrüstung und programmierbare Roboter-Controller, die eine deutlich erhöhte Testgenauigkeit und Produktivität gewährleisten. Es ist mit automatisierten TSK-Wafer- und Folieninspektionssystemen ausgestattet, die die Fähigkeit besitzen, verschiedene Arten von Defekten zu erkennen, einschließlich Düsenrisse, die mit bloßem Auge nicht sichtbar sind. Die relative Positionierung zwischen Prober und Analysator kann ohne Beeinträchtigung der Systemstabilität eingestellt werden. Dies erleichtert die Verringerung der Lücke zwischen Testergebnissen und Analyse physikalischer Defekte am Wafer oder an der Matrize. Der Prober ermöglicht eine Vielzahl von Sondenkopfkonfigurationen und bietet eine programmierbare Steuerplattform für Präzisionssondierung. Das Gerät verfügt zudem über eine voll programmierbare 6-Achsen-Wafer-Bühne mit einer fortschrittlichen Wafer-Handhabungsmaschine, die schnelle und wiederholbare Ergebnisse liefert. Dieses Tool ermöglicht eine schnelle und zuverlässige automatisierte Ausrichtung und Bewegung von Wafern. ACCRETECH MHF 300 L kommt auch mit mehreren Arten von Waferspannfutter, einschließlich einer Druckspannfutter Asset, die eine verbesserte Parallelität zwischen der Waferoberfläche und dem Sondenkopf bietet. Es umfasst auch kontaktlose und berührungslose Messfähigkeiten, variable Sondenkrafteinstellungen für genaue Sondierung und eine Vielzahl von Testfunktionen. Zur präzisen Wafer-Oberflächenmessung enthält ACCRETECH/TSK MHF 300 L ein hochauflösendes CCD-Kameramodell. Dies ermöglicht eine präzise Düsenmessung mit wiederholbarer Genauigkeit. Der Prober ist auch in der Lage, den Wafer vor und nach dem Scan nach Partikeln und Staub zu scannen. ACCRETECH MHF300L ist ein sehr zuverlässiger, vielseitiger Prober, der erhebliche Kosteneinsparungen in Form von erhöhter Produktivität bei der Prüfung und Messung der Eigenschaften von Wafern und Werkzeugen bietet. Es eignet sich sowohl für den Einsatz in Produktions- und Entwicklungsumgebungen als auch für Anwendungen wie Halbleitertest und Waferfertigung.