Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 300L #9351760 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
MHF 300L
ID: 9351760
Wafergröße: 6"-8"
Weinlese: 2000
Manipulator for UF 200A, 6"-8" CE Marked 2000 vintage.
ACCRETECH/TSK MHF 300L ist ein hochmoderner Wafer-Prober zum Testen von ICs, Displays und anderen Halbleiterbauelementen. TSK MHF300L verfügt über ein hochentwickeltes On-Probe-Design, das eine hochpräzise Sondierung und Platzierungsgenauigkeit von bis zu 40 Mikrometern ermöglicht. Diese Genauigkeit wird auch unter Nicht-Umgebungsbedingungen wie Temperatur, Feuchtigkeit oder Vibrationen aufrechterhalten. Darüber hinaus verfügt das System über eine einzigartige 3-dimensionale Bewegungssteuerung zur präzisen Positionierung von Sonden in exakten Höhen, Winkeln und Abständen. Das fortschrittliche Design dieses Probers eliminiert die zusätzlichen Belastungen und Kosten, die mit den Anpassungen auf der Hand verbunden sind, um Sonden mit bestimmten Geräten abzustimmen. Neben der Bewegungssteuerung bietet ACCRETECH MHF 300 L eine Reihe von Präzisionsgeräten und Messoptionen. Die einbettbaren Sondenhalter verwenden gehärtetes Material und sind ergonomisch auf optimale Griff- und Schnittstellenstabilität ausgelegt. Das System umfasst auch eine breite Palette von Modulen zum Testen von Objekten wie Anzeigebildern, analogen Eingängen und digitalen Bildern. Darüber hinaus können ACCRETECH MHF 300L programmiert werden, um Tests in einer bestimmten Reihenfolge durchzuführen sowie Fehler in Komponenten zu erkennen. TSK MHF 300 L ist mit modernsten Sicherheitsfunktionen ausgelegt, um sowohl den Bediener als auch das zu prüfende Gerät zu schützen. Es ist nicht nur so konzipiert, dass es den internationalen Sicherheitsstandards entspricht, sondern verfügt auch über eine externe Nothaltetaste im Falle eines versehentlichen Notfalls. Zusätzlich ist die Sonde selbst von der zu prüfenden Vorrichtung isoliert, um eventuelle statische Entladungen zu verhindern, die die Vorrichtung beschädigen können. Insgesamt bietet ACCRETECH/TSK MHF 300 L eine hochentwickelte und integrierte Wafer-Prober-Lösung mit einer Vielzahl von Funktionen und Funktionen. Seine genaue Bewegungssteuerung und seine qualitativ hochwertigen Sicherheitsmerkmale machen es ideal für die Prüfung einer Vielzahl von ICs, Displays und anderen Halbleiterbauelementen. Die vielen Funktionen und Funktionen von MHF 300L machen es zu einer idealen Wahl für Hersteller, die ihren Produktionsprozess optimieren und genaue, leistungsstarke Testergebnisse gewährleisten möchten.
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