Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 400 #293608347 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 400 ist ein Prober zur Prüfung der elektrischen Eigenschaften von Halbleiterbauelementen. Es eignet sich zur Qualitätskontrolle, Fehleranalyse und Charakterisierung von Halbleitermaterialien. TSK MHF 400 ist ein hochintegriertes und programmierbares Testsystem, das es Kunden ermöglicht, wertvolle Einblicke in die Leistung ihres Materials zu erhalten. Es ist in der Lage, Parameter wie Gerätespannung, Strom und Widerstand sowie Geräteleckstrom und Lebensdauer zu messen. Darüber hinaus bietet ACCRETECH MHF400 vielseitige Anwendungsunterstützung für Standard- und kundenspezifische Sondierungsanforderungen. TSK MHF400 ist ein vollautomatisches und programmierbares Testsystem mit erweiterten Scanfunktionen. Es ist für hohe Genauigkeit und Wiederholbarkeit konzipiert und kann bis zu Nanovolt- und Nanosekundenniveaus messen. ACCRETECH/TSK MHF400 ist mit einem hochauflösenden, multiregionalen Testbereich (Rand, Mitte und Ecken) ausgestattet, der Flexibilität und Durchsatz bietet. Das Gerät ist auch in der Lage, große Mengen von akkumulierten Daten zu scannen und auszulesen, so dass es für die großflächige Testsammlung und Fehleranalyse geeignet ist. MHF 400 ist mit automatisierter Hardware und Software ausgestattet, die speziell für die schnelle und einfache Einrichtung und Durchführung von Tests entwickelt wurde. Der Aufbau und die Bedienung des Geräts können über die Software TSK Easyvision gesteuert werden. Diese Software bietet Benutzern eine einfache, aber leistungsstarke Benutzeroberfläche zum Erstellen und Verwalten von Testplänen, zum Ausführen von Tests und zum Analysieren von Testdaten. ACCRETECH MHF 400 bietet eine einzige Plattform, um die Geräteleistung schnell und genau zu bestimmen. Es ist eine ideale Testlösung für Halbleiter- und IC-Teilehersteller sowie Halbleiter-Forschungs- und Entwicklungslabore. Die eingebaute Selbstdiagnose von MHF400 ist besonders nützlich für die Qualitätskontrolle, die Fehleranalyse und die Charakterisierung der Halbleitermaterialleistung.