Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 400 #9194866 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 400 ist ein Prober für die Dünnschichtanalyse in der Halbleiter- und Elektronikindustrie, der zur Inspektion einer Vielzahl von Merkmalen auf der Oberfläche verschiedener Wafer verwendet wird, einschließlich Widerstand, Kapazität, optische, Mikrodefekte, Dünnschichtmessungen und dielektrische Konstantenmessungen. Der Prober verwendet ein hochentwickeltes System, das Proben direkt messen kann, ohne dass Zwischenschritte wie Handhabung oder Reinigung erforderlich sind. Der Prober hat eine 6-Zoll-Waferkapazität und ist in der Lage, verschiedene Elemente auf der Oberfläche eines Wafers in Minuten schnell und genau zu messen. Das hochempfindliche Rückkopplungssystem sorgt zudem für eine hohe Genauigkeit in der Oberflächenanalyse. Der Prober ist zudem mit einer ausgeklügelten und dennoch benutzerfreundlichen grafischen Benutzeroberfläche (GUI) ausgestattet. Auf diese Weise können Bediener eine Vielzahl von Parametern leicht manipulieren und die Ergebnisse ihrer Messungen anzeigen. Die GUI verfügt auch über viele Funktionen, mit denen Benutzer verschiedene Funktionen überwachen können, wie den Status der Stromversorgung, den Wafer-Prüfstatus und die Temperatur der Prober-Umgebung. Neben seinen hochauflösenden Überwachungs- und Rückkopplungsfunktionen bietet der Prober auch eine Vielzahl von Betriebsmerkmalen: optischer Zoom, Bordmesstechnik, elektrischer Test und Mikro-Raman-Messungen. Die optische Zoomfunktion ermöglicht es dem Bediener, den Wafer zu vergrößern, um die Details seiner Funktionen mit höchster Genauigkeit zu untersuchen. Die Bordmesstechnik nutzt das eingebaute System des Probers, um präzise, wiederholbare Messungen einer Vielzahl von Funktionen auf dem Wafer vorzunehmen. Diese Messungen können dann verwendet werden, um die Einhaltung der geltenden Industriestandards sicherzustellen. Das elektrische Testmerkmal von TSK MHF 400 bietet eine fortschrittliche Lösung, um den Widerstand und die Kapazität des Wafers zu testen. Es verfügt auch über einen empfindlichen Oberflächenmaterial-Scan-Algorithmus, der es Operatoren ermöglicht, die Eigenschaften des Wafers in Echtzeit zu beobachten. Die Micro-Raman-Funktion ermöglicht es Benutzern, die physikalischen Eigenschaften einer Waferoberfläche auf mikroskopischer Ebene zu untersuchen, was für die Analyse schwierig zu untersuchender Bereiche unerlässlich ist. Aufgrund seines ausgeklügelten Designs und seiner fortschrittlichen Eigenschaften ist ACCRETECH MHF400 prober eine ideale Wahl für eine Vielzahl anspruchsvoller Anwendungen. Sein intuitives Design ermöglicht es auch unerfahrenen Bedienern, das Beste aus den Fähigkeiten des Probers zu machen, so dass sie schnell und präzise die Eigenschaften von Wafern mit Leichtigkeit messen können.