Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 4000 #9035725 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 4000 ist ein Prober zur Prüfung und Sondierung von Geräten wie integrierten Schaltungen, Mikroprozessoren, Speicherchips und anderen diskreten elektronischen Komponenten. Diese Ausrüstung bietet eine hohe Genauigkeit und Stabilität durch eine Kombination aus Wafer Automatic Probing (WAP) und Nadelfeinsondierungstechnologien. TSK MHF 4000 ist in der Lage, in einer Vielzahl von Teilungen und Größen wie 0.5mm, 0.25mm, 0.125mm und 0.08mm zu sondieren. Die WAP-Technologie ermöglicht eine hochpräzise Ausrichtung von Nadeln mit zugrundeliegenden Komponenten auf dem Wafer, wodurch das System selbst feinste Strukturen lokalisieren und abbilden kann. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH MHF 4000 über eine einzigartige Nadelfeinsondierungstechnologie, die eine unglaublich hohe Genauigkeit und Präzision ermöglicht. Diese Technologie nutzt eine Kombination aus optischen und mechanischen Systemen, um Komponenten in unglaublich kleinen Abständen genau zu lokalisieren und zu sondieren. MHF 4000 ist mit einer umfassenden Suite von Software- und Hardwarefunktionen ausgestattet, die es ermöglichen, eine Vielzahl von Test- und Sondierungsfunktionen zu erfüllen. Dank der verbesserten Rechenleistung sowie der intuitiven grafischen Benutzeroberfläche (GUI) kann das Gerät schnell und einfach konfiguriert und überwacht werden. Dieser Prober ist zudem mit einer offenen Architekturplattform ausgestattet, die eine einfache Integration in bestehende Produktionslinien und Testzellen ermöglicht. Um Genauigkeit und Zuverlässigkeit bei der Prüfung zu gewährleisten, kommt ACCRETECH/TSK MHF 4000 mit verschiedenen Sondierungsfunktionen, einschließlich Interferenzwellenformmessung, Wellenformvergleich, Stromausfallmessung und Atomkraftmikroskopie. Diese Funktionen ermöglichen es der Maschine, die Geräteleistung genau zu bewerten und zu diagnostizieren, um überlegene Ergebnisse zu gewährleisten. Darüber hinaus umfasst TSK MHF 4000 ein umfassendes Überwachungswerkzeug, das zur Erkennung von Fehlstellungen, Nadelstau und anderen potenziellen Problemen entwickelt wurde. Durch die Sicherstellung, dass der Prober immer einwandfrei funktioniert, ist ACCRETECH MHF 4000 in der Lage, mit seinen Prüf- und Sondierungsvorgängen die Genauigkeit zu maximieren. MHF 4000 ist ein fortschrittlicher Prober, der zum Testen und Sondieren von feinteiligen Bauteilstrukturen entwickelt wurde. Durch die Kombination von Wafer Automatic Probing (WAP) und Nadelfeinsondierungstechnologien bietet dieses Asset eine überlegene Genauigkeit und Stabilität. Darüber hinaus verfügt ACCRETECH/TSK MHF 4000 über eine umfassende Suite an Software- und Hardwarefunktionen, mit denen die Geräteleistung genau bewertet und diagnostiziert werden kann. Es ist auch mit einem umfassenden Überwachungsmodell ausgestattet, um mögliche Fehlstellungen und Nadelstau zu erkennen und seine Genauigkeit und Zuverlässigkeit bei der Prüfung weiter zu maximieren.