Gebraucht ACCRETECH / TSK MHF 410 #293608350 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK MHF 410 ist ein Prober, der entwickelt wurde, um schnelle, genaue und zuverlässige Daten beim Testen von Halbleiterbauelementen bereitzustellen. Der Prober ist ein ausgeklügeltes Testwerkzeug, das Zeit sparen und die Genauigkeit verbessern soll. Es kombiniert ein ausgeklügeltes Design mit einer einfachen Bedienung und bietet eine kostengünstige Lösung für ein komplexes Testproblem. Der Prober verwendet ein vierachsiges Bewegungssteuerungssystem, um Teststrukturen genau zu positionieren, während eine dreiachsige Krafterfassungseinrichtung verwendet wird, um die Kräfte zu erfassen, die für eine zuverlässige Reibkraftprüfung erforderlich sind. Das macht TSK MHF 410 ideal für regelmäßige und unregelmäßige Geräteformen. Die Nutzung der Krafterkennung während des Tests ermöglicht eine schnelle und genaue Datenerfassung, wodurch die Testzeit erheblich reduziert und der Ertrag verbessert wird. Der Prober verfügt auch über eine automatisierte Kollisionswiederherstellungsfunktion. Dadurch werden versehentliche Kollisionen erkannt und die Bewegungsgeschwindigkeit angepasst, um sicherzustellen, dass keine weiteren Schäden verursacht werden. Dadurch werden nicht nur Ausfallzeiten und Schadenskosten reduziert, sondern auch der manuelle Eingriff bei der Prozessabwicklung zur Behebung von Fehlern entfällt. Zusätzlich ist der Prober selbstkalibrierend, was bedeutet, dass er auch nach Tausenden von Tests genaue Testoperationen durchführen kann. Der Prober kann auch eine breite Palette von Wafergrößen von 12 bis 200 Millimetern handhaben, was ihn zu einer idealen Lösung für eine Vielzahl von Testszenarien macht. Es verfügt auch über ein hochauflösendes Kamerasystem, das kontrastarme Ziele erfasst und schnellere und genauere Messungen ermöglicht. Nach dem Testen werden gesammelte Daten automatisch auf externen Geräten wie USB-Laufwerken gespeichert, um eine schnellere Analyse und einen verbesserten Ertrag zu ermöglichen. Insgesamt ist ACCRETECH MHF 410 ein vielseitiger Prober, der genaue und zuverlässige Daten für Halbleitertests liefert. Die Verwendung fortschrittlicher Funktionen wie Krafterkennung und Kollisionswiederherstellung ermöglicht schnellere und genaue Messungen und Datenerfassung und bietet eine kostengünstige Lösung für komplexe Testprobleme.