Gebraucht ACCRETECH / TSK SA-2500 #9270843 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK SA-2500 ist ein Prober für 3D-IC-Tests und -Analysen. Es ist ein effizientes und hochpräzises Testwerkzeug, das in der Lage ist, eine umfassende Oberflächenanalyse für eine Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen, einschließlich derjenigen im Zusammenhang mit Halbleitermikrostrukturen. TSK SA-2500 hat ein flexibles, hochsensibles Design. Es verfügt über eine Vielzahl von Funktionen, einschließlich fortschrittlicher 3D-Bildgebung, elektrischer Charakterisierung und dynamischer Datenerfassung. Es wurde entwickelt, um wiederholbare Ergebnisse mit einer hohen Genauigkeit zu liefern. ACCRETECH SA-2500 verfügt über eine robuste, zuverlässige Dual-Channel-Architektur, die es ermöglicht, Tests von beiden Seiten des Geräts durchzuführen. Drei Bewegungsachsen für den Probentransport ermöglichen es, große Anzahl von Geräten in einer einzigen Testsitzung schnell zu probieren. SA-2500 verfügt über eine leistungsstarke, anspruchsvolle Steuerungsausrüstung, um Tests und Analysen zu erleichtern. Das Steuerungssystem ist benutzerfreundlich gestaltet und verfügt über eine intuitive grafische Benutzeroberfläche, mit der Benutzer Tests schnell einrichten, programmieren und ausführen können. Das Gerät ermöglicht auch die Entwicklung individueller Testprofile und die einfache gemeinsame Nutzung über mehrere Benutzer hinweg. Für die Bildanalyse verfügt ACCRETECH/TSK SA-2500 über fortschrittliche optische und CCD-Bildgebungssysteme, die eine Vielzahl von Funktionen erkennen können. Die Maschine kann hochauflösende Bilder mit einer Vergrößerung von bis zu 500x erzeugen. Das Tool enthält auch eine Vielzahl erweiterter Bearbeitungsoptionen wie Fokusstapeln, Farbkartenanalyse, Mustererkennung und KE-Messung. Die Fähigkeit, eine Vielzahl von Funktionen genau zu messen und zu analysieren, wird durch den fortschrittlichen messtechnischen Vermögenswert von TSK SA-2500 weiter verbessert. Mit einer Hochgeschwindigkeits-Scanrate von bis zu 10 mm/s und einer flexiblen Auswahl an Sondenspitzen ermöglicht das Modell eine Vielzahl von Messungen an einem einzigen Gerät. Darüber hinaus kann das Gerät dynamische Daten aufzeichnen und analysieren, einschließlich Temperatur, Wärmeübergangsgeschwindigkeit und Ausgangsleistung. Insgesamt ist ACCRETECH SA-2500 ein fortschrittlicher Prober, der für 3D-IC-Tests und Oberflächenanalysen entwickelt wurde. Es bietet ein effizientes und präzises Instrument zum Testen einer Vielzahl von Halbleitermikrostrukturen. Durch die Kombination von fortschrittlichen Bildgebungssystemen, Messtechnik und dynamischen Datenerfassungsfunktionen ist SA-2500 ein unschätzbares Werkzeug für die Erforschung und Analyse einer Vielzahl von mikroelektronischen Geräten.