Gebraucht ACCRETECH / TSK Surfcom #9206329 zu verkaufen
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ID: 9206329
Surface texture / Contour measuring instrument
TOKYO-SEIMITSU Granite surface plate
NEWPORT Isolation table.
ACCRETECH/TSK Surfcom ist ein anspruchsvoller Prober, der eine kostengünstige und zuverlässige Lösung zur Messung und Analyse der Oberflächeneigenschaften von Halbleiterbauelementen bietet. Das Gerät ist für End-of-Line-Tests und Wafer-Level-Sondierung konzipiert und verfügt über integrierte Funktionen wie ein Vakuumfutter, Luftstrahlen, optische Sensoren und einen mehrachsigen Bewegungsregler, der es ideal für eine Vielzahl von Wafer-Sondierungsanwendungen macht. Es kann eine Vielzahl von Merkmalen messen, einschließlich Topographie, Oberflächengüte und elektrische Eigenschaften. TSK Surfcom hat eine kompakte Bauweise, die minimalen Arbeitsraum beansprucht und sich einfach in bestehende Testsysteme integrieren lässt. Es verwendet einen mehrachsigen Bewegungsregler, um eine schnelle und genaue Bewegung und Positionierung des Tastkopfes über der Probe zu ermöglichen. Das Gerät bietet auch eine einfache Kalibrierung zur Messung der Spitzenhöhe mit einer Auflösung von 0,001 mm. Es enthält auch ein piezokontrolliertes Spannfutter, das eine konsistente Lücke zwischen der Sonde und der Probe beibehält. Ein Luftplattensystem hilft, Probenverzerrungen zu verhindern und das Risiko von Schäden an empfindlichen Materialien wie Photomasken zu verringern. ACCRETECH Surfcom umfasst auch eine Reihe von optischen Sensoren mit Auflösungen von bis zu 0,5 µm. Diese Sensoren messen Oberflächenmerkmale wie Ebenheit, Unebenheit und Kratztiefe sowie Stempel-Parallelität und Eckenradius. Es verfügt auch über ein automatisiertes programmierbares Scansystem, mit dem Oberflächenmerkmale wie Abweichungen und Topographie schnell abgebildet werden können. Die Einheit ist auch in der Lage, elektrische Eigenschaften zu messen, einschließlich Oberflächenpotentiale und Widerstand. Es enthält einen Satz von Sonden, die an ein externes Netzteil angeschlossen sind und in der Lage sind, die Spannung oder den Widerstand zwischen Punkten an der Probe zu messen. Damit können winzige Defekte erkannt und die Probe elektrisch charakterisiert werden. Insgesamt ist Surfcom ein innovativer und zuverlässiger Prober, der genaue Messungen für Halbleiterbauelemente bereitstellen kann. Es bietet eine kostengünstige und hochflexible Lösung für End-of-Line-Tests und Wafer-Sonden-Anwendungen. Mit seiner Reihe von Funktionen ist es ideal für den Einsatz in einer breiten Palette von Halbleiter-F & E, Prototyping, Massenproduktion und Engineering-Anwendungen.
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