Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 190 #9066941 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 190 ist ein Wafer-Prober für den Einsatz in Halbleiterprüflaboren. Es ist ein vollautomatischer Prober, der entwickelt wurde, um alle Arten von Halbleiterbauelementen schnell und effizient zu sondieren. Dieser Prober ist sowohl mit vertikalen als auch mit seitlichen Sondenarmen ausgestattet, sodass er sowohl auf einer horizontalen als auch auf einer vertikalen Ebene auf Teile zugreifen kann. Darüber hinaus bietet der Prober benutzerfreundliche Touchscreen-Programmierung, mehrere Ladeoptionen zur Beschleunigung der Wafer-Handhabung und geringe Geräuschemissionen. Die eingebettete Sondenspitze des TSK UF 190 verfügt über ein 3-Achsen-Design, das die Gleichmäßigkeit und Genauigkeit maximiert und Benutzern die Möglichkeit gibt, alle Arten von Halbleiterbauelementen genau zu sondieren. Darüber hinaus enthält der Prober Ejector-Systeme, mit denen Benutzer Geräte schnell aus dem Prober entfernen können, ohne sie zu beschädigen. Dies ermöglicht eine präzise Platzierung und Prüfung von Geräten, die ansonsten schwierig oder zeitaufwendig wären. Der Prober ist zudem mit einem hochauflösenden optischen Teilsystem ausgestattet, das eine präzise Sondierung und Prüfung von hochdichten Geräten ermöglicht. Mit Hilfe dieses optischen Teilsystems kann der Prober Datenpunkte in allen Dimensionen genau erfassen und so wertvolles Feedback für die Qualitätskontrolle liefern. ACCRETECH UF 190 verfügt zudem über eine robuste Wafer-Mapping-Funktion. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, eine „priorisierte“ Programmfolge zu erstellen, so dass sie ihre Testverfahren schnell und effizient priorisieren und den Testprozess nach Bedarf anpassen können. Um seine Portabilität weiter zu erhöhen, bietet der Prober auch einen optionalen integrierten Speicher, der bis zu 200 Einträge speichern kann, wodurch der Prozess viel einfacher wird und sichergestellt wird, dass wichtige Daten immer zugänglich sind. Abschließend ist UF 190 ein robuster und zuverlässiger Wafer-Prober für den Einsatz in Halbleiterprüflaboren. Mit seiner benutzerfreundlichen Touchscreen-Programmierung, mehreren Ladeoptionen, geringen Rauschemissionen und einem hochauflösenden Optik-Subsystem ist es ein leistungsfähiges Werkzeug zur schnellen und genauen Sondierung von Halbleiterbauelementen. Darüber hinaus machen die Wafer-Mapping-Funktionen des Probers und der optionale integrierte Speicher ihn zu einem Muss für jedes moderne Prüflabor.