Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 190A #9091012 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 190A prober ist ein vollautomatisches, leistungsstarkes Wafer-Sondierungssystem. Es ist entworfen, um elektrische und physikalische Tests wie hochgenaue Sondierung, Wafer Post-Exposure-Inspektion und elektrische Charakterisierung von Geräten durchzuführen. TSK UF 190A prober liefert genaue und zuverlässige Testergebnisse für die Schaltungsvalidierung. Es ist mit verschiedenen fortschrittlichen Technologien wie hochpräziser berührungsloser automatischer Ausrichtung, parametrischer Prüfung auf Waferebene und Strahlabtasttechnologien ausgestattet, die es ermöglichen, eine effiziente Wafer-Sondierung bereitzustellen. Der Prober verfügt über ein Multi-Core-Portfolio von automatischen Sondierköpfen, Sensoren und Remote-Wafer-Handling-Einheiten, so dass Benutzer das System für Anwendungen wie Gerätecharakterisierung und Produktionstests anpassen können. Darüber hinaus bietet es eine Vielzahl von Sondenkarten, Testvorrichtungen und anderen Peripheriegeräten, um jede Anwendung zu unterstützen. Mehrere Sonden-Kartendecks werden in Konfigurationen von bis zu vier Karten angeboten. Das Sonden-Karten-Zubehör auf ACCRETECH UF 190 A Prober umfasst einen beweglichen Kalibrierblock, einen berührungslosen Parallaxe-Monitor und Lasersonden, so dass der Prober eine hochgenaue Ausrichtung und Wafer-Sonde bereitstellen kann. Um die Genauigkeit und Produktivität weiter zu erhöhen, kann der Prober mit einer Vielzahl von Wafer-Back-End-Modulen wie Gesortierungs- und Burn-In-Modulen integriert werden. ACCRETECH/TSK UF 190 Ein Prober bietet auch eine Reihe von Software-Tools zur Konfiguration, Steuerung und Überwachung des Sondierungsprozesses. Es verfügt über leistungsstarke Test- und Ausrichtungsalgorithmen wie Fuzzy-Logik und Prober Control zur Führung des Armes und zur Steuerung der Sonden. Alle diese Werkzeuge arbeiten im Tandem, um eine reibungslose und genaue Wafer-Sondierung zu ermöglichen, was zu konsistenten Ergebnissen führt. ACCRETECH UF 190A prober ist eine ideale Lösung zur Produktionsprüfung und Charakterisierung von Halbleiterbauelementen. Mit seinen fortschrittlichen Funktionen und Funktionen bietet es eine effiziente und zuverlässige Sondierung für eine Vielzahl von Anwendungen.