Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 190B #293827348 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 190B ist ein Prober, der für die On-Wafer-elektrische Sondierung von Geräten im 200 mm-Wafergrößenbereich konzipiert ist. Es ist ein flexibler, leistungsstarker Prober vor Ort, der die Bedürfnisse einer Vielzahl technischer Anwender erfüllen kann. Es kombiniert ein modernes Roboter-Wafer-Greifsystem, eine virtuelle Stift-Sonde und eine erweiterte Kalibrierungsfunktion, um hohe Genauigkeit und zuverlässige Ergebnisse zu liefern. TSK UF190B prober verfügt über ein leistungsstarkes Roboter-Wafer-Greifsystem, das Wafer mit einem Durchmesser von bis zu 200 mm und einer Dicke von bis zu 12 mm handhaben kann. Der Prober ist mit einer Virtual-Stylus-Sonde ausgestattet, die eine berührungslose/ausrichtende Sonde ist. Diese Virtual-Stylus-Sonde ist so konzipiert, dass sie eine gleichzeitige x, y, z-Koordination ermöglicht und eine präzise Berührung oder Ausrichtung mit der Probenoberfläche gewährleistet. Diese Sonde kann in zwei-, drei- oder vierachsigen Konfigurationen konfiguriert werden, um die Sondierungsanforderungen verschiedener Produktions- und Forschungsanwendungen zu erfüllen. Die erweiterte Kalibrierfunktion des Probers ermöglicht es dem Benutzer, die Wiederholbarkeit der Waferbewegung durch Vergleich der an verschiedenen Stellen auf dem Wafer entnommenen Proben zu bestimmen. Dies sorgt für eine erhöhte Genauigkeit und Wiederholbarkeit während des Sondierungsprozesses. Darüber hinaus verfügt dieser Prober auch über die einzigartige LMCOM automatische globale Ausrichtungskorrektur. Diese Korrektur sorgt für eine genauere Ausrichtung zwischen den Proben und der Sonde, wodurch eine manuelle Korrektur entfällt. Die Automatisierungsfunktion des Probers ermöglicht einen unbeaufsichtigten Betrieb, wodurch sich der Benutzer während der Ausführung des Probers auf andere Aufgaben konzentrieren kann. Der Prober ist auch mit einer intuitiven Benutzeroberfläche ausgestattet, die es einfach macht, Sondierungspfade zu programmieren und zu verfolgen. ACCRETECH UF 190 B verfügt über ein fortschrittliches Datenerfassungssystem mit integrierter Ethernet-Verbindung. Dies ermöglicht eine schnelle Übertragung von Testergebnissen vom Prober auf einen lokalen oder entfernten Computer. ACCRETECH/TSK UF 190 B ist ein ideales Instrument für Produktions- und Forschungsanwendungen. Seine hohe Genauigkeit, zuverlässige Leistung und fortschrittliche Automatisierungsfunktionen machen es für eine breite Palette von Anwendungen geeignet. TSK UF 190 B ist von der Gerätecharakterisierung über die Ausbeuteverbesserung bis zur Prozesssteuerung eine ideale Wahl für die On-Wafer-Sondierung komplexer Gerätestrukturen vor Ort.