Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #293597861 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein kontaktartiges Oberflächentopographie-Messgerät, das zur Visualisierung und Messung der physikalischen Oberfläche von Proben verwendet wird. Es wird verwendet, um die Feinrauhigkeit von Proben, wie sie in der Halbleiter- und anderen Industrien verwendet werden, zu analysieren. Das kontaktartige Oberflächentopographie-Messgerät ermöglicht hochpräzise und wiederholbare Messungen mit höherer Genauigkeit als bei berührungslosen Verfahren möglich. Mit einem kapazitiv gekoppelten Druckstift kann die Sonde verschiedene Probenoberflächeneigenschaften auf mikroskopischer Ebene messen. Der Stift kann auch verwendet werden, um Eigenschaften wie Oberflächengüte, Oberflächenstruktur und Oberflächenstruktur zu messen. Es verfügt über eine 3-Achsen-Steuerung, die eine gleichmäßige Druckkraft aufbringt. Dadurch, dass der Stift den direkten Kontakt mit der Probe aufrechterhalten kann, ist TSK UF 200 in der Lage, schnellere und genauere Messungen als andere Messgeräte bereitzustellen. ACCRETECH UF200 verfügt auch über ein fortschrittliches Vision-System und Software, die eine breite Palette von Möglichkeiten für die Datenerfassung und -analyse bietet. Es ist in der Lage, 3D-Konturformen und -messungen automatisch zu erkennen, zwischen Materialien zu unterscheiden und verschiedene Textureigenschaften wie Gleichmäßigkeit, Größe und Tiefe zu identifizieren. Das Gerät ist auch in der Lage, Oberfläche und Volumen zu messen und kann ein 3D-topographisches Bild der Probe erzeugen, das zum Vergleich mit Standardproben verwendet werden kann. Dank seiner fortschrittlichen Software und seiner Fähigkeit, verschiedene Oberflächeneigenschaften genau zu messen, ist UF200 für den Einsatz in Branchen wie Motorsport und Automobil, Luft- und Raumfahrt, Medizinprodukteherstellung, Photonik und jeder anderen Branche, die präzise Oberflächenmessungen erfordert, bestens gerüstet. Dies macht es zu einem äußerst nützlichen Messgerät, das in der Lage ist, schnelle und genaue Messwerte für eine Vielzahl von Anwendungen bereitzustellen.