Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #293607363 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist eine Prober-Plattform, die im Halbleiterbereich zum Testen von Probing-Anwendungen in Wafer-Level, Modul-Level und System-Level-Tests verwendet wird. Die Plattform bietet präzise und präzise Tests über verschiedene Technologien hinweg, mit fortschrittlicher Automatisierung und Hochgeschwindigkeitsleistung. Es ermöglicht die schnelle Prüfung einer beliebigen Anzahl von Wafern auf einmal und die Optimierung von Wafer-Level-Probing-Operationen. TSK UF 200 ist eine multifunktionale Proberplattform, die mit einer Vielzahl von Anwendungen entwickelt wurde. Es ist in der Lage, mit einer Reihe von Sonden zu arbeiten, wie Kontaktsonden, drahtlose Sonden, kontaktlose Sonden, ultraflache Nadeln und leitfähige flache Nadeln. Darüber hinaus unterstützt es mehrere Arten von Tests, wie Hochfrequenz, HF und Breitband. ACCRETECH UF200 hat einen geringen Platzbedarf und ist sehr kompakt, so dass es für eine beliebige Anzahl von Einrichtungen geeignet ist. Es unterstützt sowohl den manuellen als auch den automatisierten Betrieb und kann an spezifische Anforderungen angepasst werden. Das System verfügt über eine Reihe von programmierbaren Funktionen und seine intuitive Benutzeroberfläche macht es einfach zu bedienen und für neue Benutzer geeignet. In Bezug auf Genauigkeit und Leistung verfügt ACCRETECH UF 200 über einen hochpräzisen und konsistenten Sondierungsprozess für eine Reihe von Testanwendungen. Das System hat eine hochempfindliche vertikale Auflösung von 0,125 Mikrometer, was hilft, die Genauigkeit jedes Mal zu gewährleisten. Es ist auch sehr zuverlässig, mit einem MTBF (Mean Time Before Failure) von bis zu 80.000 Stunden. TSK UF200 ist ein leistungsfähiger und zuverlässiger Prober, der eine Reihe automatisierter Funktionen bietet, um Tests zu vereinfachen und die Produktivität zu steigern. Mit modernster Technologie, intuitiver Benutzeroberfläche und präziser Leistung ist ACCRETECH/TSK UF200 eine ausgezeichnete Wahl für Wafer-Level-Tests und Sondierungsanwendungen im Halbleiterbereich.