Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #293615529 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200
ID: 293615529
Weinlese: 1998
Prober (25) Cassettes: 100M HD LCD Display, 10" Support standard Real time wafer map display and print Standard TTL I/F Auto Pad Alignment unit (Auto Setup) Probe mark inspection Chuck: Nickel, 8" Multi-site probing function 3-64 dies Fail mark inspection Hot chuck and controller Manipulator Auto Card Change Printer Right loader with cover 1998 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Wafer-Prober, der üblicherweise für elektrische Tests an Halbleiterscheiben in der Mikroelektronik-Fertigungsindustrie verwendet wird. Es verwendet ein Saphir Scribed Multi-Arm Probing System (SMAPS), um das Sondieren von Wafern zu erleichtern. Dieses System nutzt eine benutzerfreundliche Touchscreen-Schnittstelle und kann bis zu acht Sonden gleichzeitig steuern. Eine Reihe von Faktoren machen TSK UF 200 zu einem wünschenswerten Prober für die elektrische Prüfung. Erstens hat es eine große Genauigkeit, mit einer Wiederholbarkeit von 0,0022 mm, die präzise Testergebnisse ermöglicht. Zweitens bietet es bis zu acht Sonden, die alle unabhängig voneinander gesteuert werden und dem Bediener zusätzliche Flexibilität bei der Durchführung von Tests bieten. Schließlich erleichtert das Sapphire Scribed Multi-Arm Probing System (SMAPS) die Sondierung von Halbleiterscheiben ohne zusätzliche Werkzeuge. In Bezug auf technische Spezifikationen hat ACCRETECH UF200 eine Gesamtgröße von 545 mm (B) x 545 mm (D) x 547 mm (H). Es wird von drei AC-Leitungen von 200 V ± 10% bei 50/60 Hz angetrieben, mit einem Gesamtleistungsbedarf von 2000 VA. Die Temperatur der Arbeitsumgebung sollte zwischen 10 ° C und 35 ° C liegen, mit einer relativen Luftfeuchtigkeit von 30-75%. In Bezug auf die operativen Merkmale bietet ACCRETECH UF 200 neben seiner primären Rolle als Prober eine Reihe von zusätzlichen Funktionen. Es verfügt über vier verschiedene Messmodi einschließlich eines variablen Datenmodus und bietet eine benutzerfreundliche Steuerungssoftware, die mit einem Virtual Reality Probing and Testing Tool (VRPTT) geliefert wird, um die Übertragung verschiedener Testparameter zwischen verschiedenen Probern zu erleichtern. Es verfügt auch über externe Anschlüsse für die Ausgabe von Nachmessdaten und zur Erkennung, wenn sich fehlerhafte Teile auf den Wafern befinden. Zusammenfassend ist UF 200 aufgrund seiner Genauigkeit, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit ein idealer Prober für die Mikroelektronik-Fertigungsindustrie. Seine Fähigkeit, bis zu acht Sonden gleichzeitig zu steuern, macht es attraktiv für diejenigen, die nach einem Prober suchen, der größere Wafer aufnehmen kann. Insgesamt bietet ACCRETECH/TSK UF200 Anwendern eine effiziente, zuverlässige und kostengünstige Möglichkeit, elektrische Tests an Halbleiterscheiben durchzuführen.
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