Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #293615530 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Prober, entworfen, um Oberfläche zerstörungsfreie elektrische Prüfung zu tun. Es wurde entwickelt, um die elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien und -bauelementen schnell und genau zu messen, um Probleme zu erkennen. Der Prober wurde speziell entwickelt, um die Testanforderungen dünner Wafer und ultrafeiner Pitch-Geräte zu erfüllen. Der Prober verfügt über ein dielektrisches Kraftmikroskop (DFM), das die quasi-statischen dielektrischen Eigenschaften der Halbleitermaterialien bei niedrigen und hohen Frequenzen genau messen kann. Es enthält auch einen betätigten Kraft-Temperaturregler (AFTC), um die Temperaturstabilität während des Mess- und Prüfprozesses aufrechtzuerhalten. Die Kombination aus DFM und AFTC ermöglicht eine genaue Messung der elektrischen Eigenschaften von Halbleitermaterialien und Bauelementen unabhängig von Temperaturschwankungen. Der Prober verfügt über ein hochauflösendes optisches Mikroskop und einen digitalen Videoprozessor, der es dem Benutzer ermöglicht, die mikroskopischen Merkmale des zu untersuchenden Wafers und der zu untersuchenden Geräte zu beobachten. Das Gerät verfügt auch über ein erweitertes Steuerungssoftware-Paket, das dem Benutzer eine intuitive Steuerung aller Geräteparameter einschließlich Testwinkel und Kraft für eine optimale Signalerfassung bietet. Der Prober beinhaltet auch ein automatisiertes selbstzentrierendes Kalibriersystem (SUC), mit dem die Proberspitze exakt an der Probenkante ausgerichtet und zentriert werden kann. Dadurch wird sichergestellt, dass keine Fehlausrichtung und ungenaue Sondierung auftreten. Der Prober enthält auch mehrere Sicherheitsmerkmale, die es dem Benutzer ermöglichen, während der Durchführung der Tests sicher zu bleiben. Dazu gehören Vibrationen und akustische Signalisierung, visuelle Anzeige und ein akustischer Alarm, wenn ein unsicherer Zustand auftritt. TSK UF 200 Prober liefert zuverlässige, wiederholbare und genaue Testergebnisse. Es ist eine ideale Lösung für Wafertests, Architekturtests, Erkennung offener und kurzer Defekte, Analyse von Drahtbonden, Gerätecharakterisierung und CAD-Designs und Messung quasi-statischer dielektrischer Eigenschaften von Halbleitermaterialien.