Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #293617575 zu verkaufen
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ID: 293617575
Weinlese: 2000
Automatic wafer prober
Chuck top
Z-Unit
X-Axis screw / X-Motor
Y-Axis screw / Y-Motor
F-Axis screw
E1 Camera module
E2 Camera module
Joystick
Touch panel / keyboard
Alarm lamp pole
Docking: Hinge
TEMPTRONIC Chiller
Relay board
Power control board
Loader 5-axis board
Stopper
Loader
VME Rack:
Slot 1: Master CPU
Slot 4: VGA Card
Slot 6: COGNEX Board
Slot 8: PIO Board
Slot 10: GPIB Board
Slot 11: (5) CH PGEN Boards
Slot 14: Disp sensor
Slot 16: Slave CPU
Slot 17: Loader I/O
Slot 18: Loader PGEN
Floppy disk
Hard Disk Drive (HDD)
Read side:
Driver board
Moire divider board
Loader side:
Loader driver board
Loader sensor board
Cassette cover
Elevator motor driver
Sub-chuck rotation motor driver
Turntable motor driver
(2) Transfer motor driver arms
Sub-chuck
Pre-alignment sensor
(2) Arms
Inspection tray
Temperature controller
Elevator / clamper
Control rack:
Z-Axis driver
X Servo driver
Y Servo driver
Missing parts:
MO Disk
Keyboard control board
Chiller
Power supply: (2) 24 V, +12 V, -12 V, 5 V, +48 V
2000 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200 Prober ist ein automatisiertes Prüf- und Prüfgerät, das speziell für Produktionsprüfungen entwickelt wurde. Es bietet ein umfassendes Feature-Set mit voller Programmierbarkeit und Flexibilität, um eine Vielzahl von Geräten wie FETs, keramische Substrate, integrierte Schaltungen und hybride Wafer zu handhaben. Das System basiert auf einer modularen und erweiterbaren Ein- und Auslaufeinheit (IOF) und verfügt über eine kompakte Bauweise, die es ermöglicht, in den Arbeitsraum der meisten Produktionslinien zu passen. Es ist ferner mit einer intuitiven, grafischen Benutzeroberfläche und Optimierungssoftware ausgestattet, die selbstlernende Funktionen, automatisierte Werkzeugauswahl und Datenanalyse bietet, um die Testeffizienz zu maximieren. TSK UF 200 Prober kann mit einer Geschwindigkeit von bis zu 200 Wafern pro Stunde arbeiten und bis zu sieben verschiedene Kontaktsonden gleichzeitig integrieren. Die Maschine ist mit einer hochauflösenden Kamera ausgestattet, die es ermöglicht, jeden Wafer durch Zoomen auf die angegebenen Koordinaten genau zu positionieren. Darüber hinaus bietet das Werkzeug ein Mehrpunkt-Messmerkmal für Präzisionsmessungen. Diese Funktion ermöglicht die gleichzeitige Messung von bis zu 64 verschiedenen Punkten auf demselben Substrat, was ein hochgenaues Ergebnis gewährleistet. Der Prober enthält auch einen computerbasierten Tastprogramm-Editor, der es Anwendern ermöglicht, Testprogramme mit hoher Flexibilität einfach zu erstellen und zu modifizieren. Diese Funktion ermöglicht es Benutzern, ihre Einstellungen weiter anzupassen und ermöglicht es ihnen, komplexe Testprogramme wie kombinatorisches Sondieren oder erweitertes Scannen zu erstellen. Darüber hinaus ist die Anlage mit einer statistischen Prozesskontrolle ausgestattet, die parallel zum Produktionsprozess Wafer-Defekte und Ertragscharakteristika überwacht, aufzeichnet und berichtet. Diese Eigenschaften, kombiniert mit der robusten Konstruktion von ACCRETECH UF200 und der äußerst intuitiven Software, machen es zu einem idealen All-in-One-Produktionsmodell für Qualitäts-, Kosten- und Ertragsmanagement für Serienanwendungen.
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