Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9151462 zu verkaufen

Hersteller
ACCRETECH / TSK
Modell
UF 200
ID: 9151462
Prober Hinge manipulator: PAMTEK M2750 Type: Stand alone.
ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein automatisierter Prober zur elektrischen Prüfung von Halbleiterbauelementen und anderen kleinen Bauteilen. Es ist für die Prüfung auf Wafer- und Düsenebene konzipiert, mit Wafer-Spannfuttergrößen bis 200mm Durchmesser. Das Gerät bietet eine breite Palette von Sondierungsfunktionen, einschließlich kontaktloser, naher Feld- und Lasersonden. Das System ist hochgeschwindigkeitssondierbar und für automatisierte Inline-Tests ausgelegt. Die Einheit besteht aus mehreren Komponenten, darunter Steuereinheit, Proberkopf, Sondenarm, Proberfutter und Proberplattform. Die Steuereinheit betätigt den Prober und beherbergt die elektronischen Komponenten und Wandler, die Signale an den Proberkopf übertragen. Der Prüfkopf ist der Teil der Einheit, der die Sonden und Prüfgeräte hält. Das Proberfutter ist mit einem Linearantrieb verbunden, der zum Bewegen und Aufsetzen von zu prüfenden Teilen auf die Sondenspitzen dient. Die Prober-Plattform wird verwendet, um Teile während der Prüfung zu unterstützen, und kann angepasst werden, um verschiedene Größen und Arten von Komponenten unterzubringen. TSK UF 200 automatisiert den Prozess der Prüfung einzelner Werkzeuge und bietet eine effiziente Methode zur Prüfung und Inspektion von Wafern in der Produktionslinie. Die automatisierte Steuerungsmaschine ist für schnelle Tests mit Geschwindigkeiten von bis zu 2500 Tests pro Stunde ausgelegt. Zur präzisen Platzierung der Sonden ist der Prober mit einem Laserwerkzeug ausgestattet, das die Sondenspitzen an die richtige Position lenkt. Das Gerät verwendet auch eine Vielzahl von optischen, Messausrichtern und Sensoren, um die genaue Positionierung der Sonden zu erleichtern. Das Modell ist auch in der Lage, überprüfende Inspektion, mit Videokameras und Inspektionssoftware. Diese Technologie ermöglicht es ACCRETECH UF200, Bilddaten zu erfassen, die dann mit programmierten Parametern verglichen werden können. Fallen die Daten außerhalb dieser Parameter, kann das Gerät Fehler in einem Bauteil erkennen und entsprechende Korrekturmaßnahmen ergreifen. UF 200 ist ein vielseitiges Gerät, das zahlreiche Komponenten wie Transistoren, Speicherchips, Logikchips und optoelektronische Komponenten testen und inspizieren kann. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten machen es zu einer idealen Wahl für diejenigen, die an der Prüfung und Inspektion von Halbleiterbauelementen beteiligt sind.
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