Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9174808 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Prober, der speziell für die Prüfung der elektrischen Eigenschaften von Nanometer-skalierten Geräten entwickelt wurde. Der Prober bietet hohe Genauigkeiten, überlegene Empfindlichkeit und eine breite Palette von Messtechniken und ist somit eine ideale Wahl für den Einsatz in Forschungs-, Produktprototyping- und Produktionsprüfumgebungen. Das Design des Probers basiert auf dem Konzept einer „Force Controlled Probe (FCP)“, die eine rückkopplungsgesteuerte Kraft zwischen Gerätetest und Sondenspitze aufweist. Dieses Design ermöglicht präzise und wiederholbare Proben, was zu äußerst genauen Messungen führt. Die Schwankungsausgleichsfunktion des Probers sorgt für eine geringe elektrische Belastung des Probengeräts, wodurch Beschädigungen des Testobjekts vermieden und eine hohe Messgenauigkeit gewährleistet wird. Der Prober ist mit acht Sondenkanälen ausgestattet und kann bis zu acht verschiedene elektrische Eigenschaften gleichzeitig messen. Es bietet eine breite Palette von Messtechniken, einschließlich Spannungs-, Strom- und Widerstandsdaten, sowie Transistorcharakterisierung. Seine 4-Punkt-Messtechnik ermöglicht schnelle Messungen und hohe Stabilität über eine breite Palette von Proben, so dass schnellere Tests und verbesserte Genauigkeit möglich sind. Der Prober erzeugt eine Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung von bis zu 5 kHz und verfügt über integrierten Speicher für bis zu 16.000 Punktdatensätze. Es bietet auch eine Vielzahl von optionalen Messzubehör, wie Temperaturfühler, Hochfrequenzkompensationswerkzeuge, Probenhalter und Adapter für verschiedene Musterformen. TSK UF 200 wird durch eine einfach zu bedienende, aber leistungsstarke Software-Schnittstelle angetrieben, die es dem Benutzer ermöglicht, Messeinstellungen anzupassen und auf mehrere grafische Anzeigen zuzugreifen. Es umfasst auch mehrere Hilfsfunktionen, wie die gemeinsame Nutzung von Messungen, Datensimulation und Datenexport-Funktionen. Insgesamt bietet der Prober ein hohes Maß an Genauigkeit und Benutzerfreundlichkeit für Forschungs- und Entwicklungsanwendungen.