Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9203169 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Prober, mit dem die elektrischen Eigenschaften integrierter Schaltungen (ICs) analysiert werden. Es kann für eine breite Palette von Anwendungen verwendet werden, einschließlich Zuverlässigkeitstests, Fehleranalysen, Stresstests, Signalintegrität, Signalintegrität und Rauschanalysen. Der Prober kann sowohl für Wafer-Level als auch für Geräte-Level-Sondierung verwendet werden. Der Prober verwendet eine patentierte True Focus-Sonden-Elektroden-Technologie, die die hochpräzise Prüfung von sehr kleinen ICs und anderen elektronischen Komponenten ermöglicht. Die True Focus-Sondenelektrode ist in der Lage, die Pads auf dem IC mit einer signifikant reduzierten Anzahl von Vias, die für die Paarung der Elektroden benötigt werden, genau zu lokalisieren und zu kontaktieren. Dies reduziert den Zeitaufwand für die Durchführung von Tests und verbessert die Genauigkeit der Ergebnisse. TSK UF 200 verfügt auch über dynamische Sondenhöhenkompensation, die die Kompensation aller Oberflächentopographieunterschiede zwischen verschiedenen IC-Pads oder Strukturen ermöglicht. Dies gewährleistet eine genaue elektrische Charakterisierung und Prüfung unabhängig von der Oberflächentopographie. Der Prober ist mit einer hochzuverlässigen Luftlagerstufe und einer geschlossenen Temperaturregelung ausgestattet, um die Betriebstemperatur konstant zu halten. Dies verbessert die Prüfgenauigkeit und Zuverlässigkeit. Der Prober verfügt auch über ein automatisches Prüfpositioniersystem, das die Probernadel über die gewünschten Prüfpunkte genau bewegen kann. Dadurch werden potenzielle Ausrichtungsfehler beseitigt und sichergestellt, dass die korrekten Prüfpunkte schnell und genau sondiert werden können. Schließlich ist der Prober auch mit einer Vielzahl von Zubehörteilen ausgestattet, mit denen der Testprozess angepasst werden kann. Dazu gehören ein Datenbankmodul, ein Datenanalysemodul, ein Board-Manager-Modul und ein Mustergeneratormodul. Abschließend ist ACCRETECH UF200 ein fortschrittlicher Prober, der eine breite Palette von Funktionen und Funktionen bietet, die für verschiedene Anwendungen wie Zuverlässigkeitstests, Fehleranalysen, Belastungstests, Signalintegrität und Rauschanalysen ideal sind. Der Prober wurde entwickelt, um sehr kleine ICs genau zu erkennen und zu analysieren und gleichzeitig zuverlässige Luftlagerstufen, eine dynamische Sondenhöhenkompensation und ein geschlossenes Temperaturregelsystem bereitzustellen. Darüber hinaus kann es leicht mit einer Vielzahl von Zubehör angepasst werden.