Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9233248 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist ein Prober zur Erkennung, Analyse und Charakterisierung von Geräten. Es eignet sich besonders für Halbleiter-Wafer- und DRAM-Chip-Tests (Dynamic Random Access Memory) und ist in einer Vielzahl von Forschungs- und Entwicklungsumgebungen (F&E) sowie Produktionsumgebungen einsetzbar. TSK UF 200 ist mit einem hochauflösenden 100X optischen Mikroskop und einer hochauflösenden CCD-Kamera (Charge Coupled Device) ausgestattet, um Oberflächenbilder und Bilder von defekten Stellen zu erfassen. Es enthält auch eine Mikropositioniererstufe mit X-, Y- und Theta-Achsen und ein 3D-berührungsloses optisches Mikroskop. ACCRETECH UF200 hat eine 4-Zoll-Waferkapazität und einen maximalen Druck von 10 psi/5 Bar. Es ist auch mit einem Vakuumfutter Mechanismus und SEM (Scanning Electron Microscope) Bildgebungsmodus ausgestattet. UF 200 bietet eine Echtzeit-Ausfallanalyse mit einem schnellen Fehlerabbildungsalgorithmus zum Verfolgen und Identifizieren von Fehlern. Es enthält auch eine Datenerfassungsausrüstung, die eine Schnellzugriffsdatenbank für Wafer-Map und Fail-Log-Verlauf enthält, für eine verbesserte Rückverfolgbarkeit und fehlerhafte Gerätecharakterisierung. UF200 arbeitet mit einem Paar 12-Bit-Dual-Analog-Servomotoren kombiniert mit einer Vielzahl von Arten von Sondenkarten und anderen Sensoren, um eine Vielzahl von Teilen zu analysieren. Es verfügt über einen exotischen digitalen Bildprozessor, mehrdimensionale Registrierungsfunktionen und FFT (Fast Fourier Transform). Das fortschrittliche Bildverarbeitungssystem analysiert und verarbeitet Geräteinformationen, während eine dedizierte CCD/Kamera sofortiges Feedback zu Testergebnissen und umsetzbarer Artikelaufzeichnung liefert. Damit eignet sich ACCRETECH UF 200 gut für eine Vielzahl von Anwendungen zur Fehlererkennung und -analyse von Halbleiterbauelementen. TSK UF200 ist für Zuverlässigkeit und hohe Leistung gebaut. Es verfügt über Umweltmanagement mit Ozonkonzentration und entionisierenden Filtern und bietet eine kontaminationsfreie Probenoberfläche für zuverlässige Beobachtungen. Darüber hinaus kommt es mit Temperaturregelung für temperaturempfindliche Proben. ACCRETECH/TSK UF200 wird auch durch TSK umfassende Produktgarantie und Service-Paket unterstützt. Abschließend ist ACCRETECH/TSK UF 200 ein fortschrittlicher Prober, der für die Erkennung, Charakterisierung und Analyse von Anforderungen im Halbleiter- und DRAM-Gerätetest entwickelt wurde. Es verfügt über eine Vielzahl von High-End-Funktionen, einschließlich einer Datenerfassungseinheit mit Echtzeit-Ausfallanalyse und schnellen Fehlermappingalgorithmen. Die fortschrittliche Bildverarbeitungsmaschine und der digitale Bildprozessor liefern zuverlässige Ergebnisse, während die eingebaute Temperaturregelung und der Ozonfilter eine Umgebung bieten, die für temperaturempfindliche Proben geeignet ist.