Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9251034 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200, hergestellt von TSK Corporation, ist ein fortschrittlicher Prober, der den Bedürfnissen von Forschungs- und Entwicklungsingenieuren gerecht wird. Es ist eine fortschrittliche, automatisierte Wafer-Prober-Ausrüstung, die in der Lage ist, eine breite Palette von ICs und Geräten zu testen. Seine hohe Geschwindigkeit, hohe Genauigkeit Leistung macht es eine ideale Wahl für eine Vielzahl von Automatisierungsanwendungen. TSK UF 200 verfügt über ein hochauflösendes OLED-Display zur einfachen Überwachung von Parametern. Es verfügt über einen vierachsigen, automatisierten Wafer-Prober mit hohem Durchsatz, der zum Testen einer Vielzahl von Eingangs- und Ausgangstypen sowie zur Erhöhung der Prüfgenauigkeit verwendet werden kann. Das System hat einen maximalen X-Y Scannerbereich von 200 Millimetern und eine Z-Achsentiefe von 0,5 bis 25 Millimetern. Es schließt auch eine völlig einheitliche, schnelllaufende Datenübertragungseinheit ein, die schnellere Datenerfassung berücksichtigt. ACCRETECH UF200 unterstützt eine Vielzahl von Prüfkarten für erweiterte Tests, einschließlich Speicher, Logik und niedrige Leistung. Darüber hinaus bietet es Prüfprüfungen wie Spannungsprüfung, Regelprüfung und Langzeitüberwachung. Der prober hat auch eine industrieführende eingebaute die-die Zwischenraumprobeeigenschaft. Die Maschine bietet auch eine Vielzahl von Wafer-Handhabungsmöglichkeiten. Es unterstützt bis zu drei Wafer auf einmal, und seine feine Steuerung der Rolle und Neigung Funktionen ermöglicht es, verschiedene Parameter in verschiedenen Losen zu handhaben. Es enthält auch ein automatisches Temperaturregelwerkzeug, um sicherzustellen, dass die Wafertemperatur auf einem vorgegebenen Sollwert bleibt. UF 200 bietet auch eine hochpräzise Waferausrichtung, die für alle Arten von Wafern geeignet ist. Es kann Ausrichtungsfehler innerhalb von 0,01 mm erkennen. Darüber hinaus führt die erweiterte Online-Feeder-Ausrichtungsfähigkeit zu einer hochgenauen Platzierung und gleichmäßigen Orientierung des Wafers. Der Prober verfügt zudem über eine umfassende Palette von Datenverwaltungsfunktionen, einschließlich einer benutzerfreundlichen Oberfläche und Bibliotheken zur Speicherung von Testdaten. Es unterstützt eine Vielzahl von Datenformaten wie CSV, TXT und Macfitex. Darüber hinaus bietet es eine breite Palette von Analyse-Tools, wie Histogramme, Trendplots und Z-Scores, sowie fortschrittliche statistische Datenverarbeitungstools. TSK UF200 ist ein fortschrittlicher Prober, der eine Vielzahl von Funktionen bietet, die es für die Prüfung einer breiten Palette von ICs und Geräten geeignet machen. Es verfügt über eine einfach zu bedienende Schnittstelle und eine breite Palette von Inspektionsmöglichkeiten, die eine verbesserte Genauigkeit und Produktivität ermöglichen. Die Hochgeschwindigkeits-Datenübertragung und die erweiterten Wafer-Handhabungsfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für Automatisierungsanwendungen.