Gebraucht ACCRETECH / TSK UF 200 #9255177 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK UF 200 ist eine Art Prober, der in der Halbleiterherstellung und -prüfung verwendet wird. Es ist ein fortschrittliches, hochpräzises und hochauflösendes Probersystem, das eine optimale Lösung für anspruchsvolle Testanforderungen bietet. Es bietet flexible und vielseitige Optionen für eine Vielzahl von Anwendungen, von der Wafer-Qualifizierung bis hin zur Geräte- oder Test-Chip-Sondierung. TSK UF 200 verfügt über ein hochauflösendes optisches Mikroskop, Miniaturobjektive und ein fortschrittliches elektronisches Steuersystem, um eine präzise und genaue Sondenplatzierung zu gewährleisten. Es bietet zwei verschiedene Platzierungen: vertikal und horizontal. Die vertikale Platzierung bietet überlegene Stabilität, eliminiert Vibrationen und liefert schnelle und genaue Testergebnisse. Durch die horizontale Platzierung ist es möglich, den Prober unter dem optimalen Positionierungswinkel zu positionieren, um die Ausbeute zu steuern und zu erhöhen. Der Prober verfügt auch über ein fortschrittliches Vision-System mit einem hochauflösenden Bildsensor, um genaue und wiederholbare Ergebnisse zu gewährleisten. ACCRETECH UF200 ist mit proprietären berührungslosen Betriebssystemen ausgestattet, die den Verschleiß herkömmlicher Kontaktprober reduzieren. Dies ermöglicht eine längere Lebensdauer, einen höheren Durchsatz und Zuverlässigkeit. Darüber hinaus verfügt der Prober über robuste Vibrationsstoppfunktionen, die die Auswirkungen statischer und dynamischer Vibrationen minimieren. Dies ermöglicht die zuverlässige Wiedergabe komplexer Testmuster und unterstützt die Prüfung einer Vielzahl von Geräten. TSK- UF200 können High-End-Anwendungen wie Fehlerinspektion, Prozesskontrolle, Fehleranalyse, Fehlerdiagnose und Ertragsvorhersage unterstützen. Es kann auch detaillierte 3D-Analyse der Sensorschaltung zur Verfügung stellen und Strukturen bis zum Submikronpegel analysieren. Der Prober bietet aufgrund seiner fortschrittlichen Scan-Drehkompensationstechnologie eine verbesserte Sondiergenauigkeit und Wiederholbarkeit. Dies ermöglicht eine engere Toleranz und eine bessere Ausrichtung der Sonde und gewährleistet konsistente Testergebnisse. Schließlich ist der Prober so konzipiert, dass er Hochgeschwindigkeits-, Hochauflösungs- und perfekte Overlay-Anforderungen wie Metallschichtausrichtung, Oberflächenquellung und Kristallalterung erfüllt. Seine kleinere Größe und einfachere Bedienung macht es für eine breite Palette von F&E und Großserienproduktion geeignet. Es ist in verschiedenen Konfigurationen erhältlich, je nach Testzielen, Wafergrößen und Standortanforderungen. Dieser fortschrittliche Prober liefert zuverlässige, wiederholbare und genaue Ergebnisse und ist damit ein ideales Werkzeug für fortgeschrittene Halbleitertests und -forschung.